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J200飞秒激光剥蚀进样系统

 
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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)
  • 品牌: 美国ASI
  • 型号:J200(LA)
  • 产地:美国
  • J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)术可靠性提升到一个新高度,可应用于矿物元素定量分析、锆石U-Pb定年、矿物熔体和流体包裹体分析、微区同位素分析和定年技术研究等地质研究领域,并在所有采样点上实现一致...

J200飞秒激光剥蚀进样系统
  • 品牌: 美国ASI
  • 型号:J200
  • 产地:美国
  • J200飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破,为了准确定量的分析元素和同位素,需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质,ICP源的颗粒能完全被消解

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