产品中心

器简介：Hiden公司的IGAsorp水分和有机蒸气吸附分析系统（MoistureSorptionAnalyser）利用重量原理来精确的表征材料的对水分的吸附和相互作用性质。仪器由计算机操作，实时记录

器简介：HTP1高压储氢研究仪器，该分析仪精确地表征储氢材料在不同压力下的储氢性能。 更多储氢介绍请至： http://www.hiden.com.cn/application

器简介：HPR-40溶解性气体分析系统（DissolvedSpeciesAnalysisSystem,orMembranceInletMassSpectrometer,MIMS),是一台完备的、桌上型

器简介：HIDENRGA系列残余气体分析四极质谱仪(ResidualGasAnalysers)，检测容器中的存在组分，或进行过程中产生气体的分析。针对真空诊断的精确分析。 残余气体或

术参数：HPR-30真空过程气体分析系统(Process Gas Analyser)，适用于监测分析残余气体和真空工艺过程中的气体组成及变化。应用： CVD / PECVD / RIE / LPC

器简介：1.适合做多层薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。 3.方便使用。 4.样品可以手动转换，由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。&#

器简介： MIMS利用装有气体过滤膜系统的取样探针或循环水取样器从液体中直接将溶解在其中的气体吸入质谱仪真空分析室，经过离子化，由质谱仪检测器得出气

多功能的模块化设计使其对样品的分析低至毫克级； 超低的死体积与精确的温控设计，使其采用Sievert方法测量等温线时具有无与伦比的精度； 该仪器与Hiden公司的在线气体分析质谱仪QIC20联用，...

术参数：质量范围amu： 1～10000 分 辨 率： >1500 m /△m 响应时间ms： 100 检测极限pptv： 20测量时间1min以上 线性范围： 10pptv～1ppmv 进气流速sc

#13; XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。 &#

#13; XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。 &#

#13; XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。 &#

EMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

EMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

1.差式泵歧管，通过法兰与过程反应室连接； 2.电子附着选件，具有可调谐的离子源，用于表观电势MS； 3.Penning规和互锁装置可提供过压保护； 4.信号选通分辨率1μs，用于研究脉冲等离子...

品简介XBS三级滤过四极质谱(MBE Deposition Rate Monitoring / Control System)，适于精确的MBE分析，其他气体分析和科学实验使用。Windows 界面的