电子显微镜

AMICS（The Advanced Mineral Identification and Characterization System）是一种基于扫描电子显微镜的自动矿物识别与分析系统。它能够精准...

操作简单且直观 *和TM4000Plus搭配应用实例 *探测器内置型 (制造商: 德国Bruker nano GmbH)

图标按操作流程顺序排列，操作简便 通过对应谱图可简单确认元素重叠状况 通过TruMap功能分离出谱峰重叠元素并准确显示(AZtecOne) *和TM4000Plus搭配应用实例 *探测器内置型...

MirrorCLEM是一个可简便观察光学显微镜和扫描显微镜同一位置的CLEM*1用系统。 *1:CLEM (Correlative light and electron microscopy)：光学...

可搭载的Z 大样品尺寸：“SU3800” 标配可搭载直径200mm样品的样品仓，可应对Z 大高度为80mm、重量为2kg的样品。 “SU3900”作为日立高新技术的大型扫描电镜，标配可搭载Z 大直径...

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials I...

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials I...

日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000，具有高稳定冷场发射电子枪，自动球差校正器，可一键操作实现自动球差校正，HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃；

日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需ZD300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。

此次推出的SU7000采用全新设计的探测器，使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。

HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能，通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一，可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作，高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作，特的双隙物镜可以实现...

体积小、操作简单、性能强（4nm@20kV）、扩展功能丰富 拥有多个探测器（SE、BSE） 拥有低真空功能，不导电和含水样品直接观察