AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。

可搭载的Z 大样品尺寸：“SU3800” 标配可搭载直径200mm样品的样品仓，可应对Z 大高度为80mm、重量为2kg的样品。 “SU3900”作为日立高新技术的大型扫描电镜，标配可搭载Z 大直径...

日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需ZD300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。

日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射 扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户...

日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑，占地面积小，但分辨率不输大型电镜，同时操作其简便，几乎不用培训就可操作。紧凑型设计，分...

在以纳米技术和生物技术为主的产业领域里，从物质的微细结构到组成成分，SEM在多种多样的观察与分析中得到了灵活应用。SEM用途日益扩大，但对于钢铁等工业材料和汽车零配件等超大/超重样品，由于电镜样品台能...

TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD，该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000PlusⅡ可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示，获...