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光学测量

 
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纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
纳米尺度3D光学干涉测量系统 VS1800
价格：面议
  • 品牌： 日本日立
  • 型号：VS1800
  • 产地：日本

    • 纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象，对微细的表面形貌进行测量，可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。而且还能以无损伤方式进行多层膜的层结构以及层内

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