表面科学

产品简介日立高分辨型双束系统 NX5000NX5000新型高分辨FIB-SEM双束系统采用冷场发射电子枪和全新的Aquila α镜筒，具有高分辨的观察能力；同时大束流的离子枪和实时观察功能

1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容，提供了纳米尺度的整体解决方案，从制样到数据获得和zui终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&am...

HF5000作为一款球差校正冷场发射透射电镜，其分辨率达到了亚埃，可以实现对样品的超细微观结构的观察和分析，适用于金属、陶瓷、半导体、纳米材料等的观察。同时，HF5000特的TEM、STEM、SEM三...

HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能，通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一，可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作，高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作，特的双隙物镜可以实现...

HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能，通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一，可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作，高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作，特的双隙物镜可以实现...

TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD，该探头在低真空环境下具有很好的成像质量。TM4000PlusⅡ可将二次电子图像和背散射电子图像叠加并实时进行显示，获...

日立ArBlade 5000离子研磨系统能够实现高产量，并制备广域横截面样品。

AFM5300E是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能，可以检测温度对样品表面形貌和物理特性的影响。

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高纳米技术研究。由于球差校正系统校...

日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000，具有高稳定冷场发射电子枪，自动球差校正器，可一键操作实现自动球差校正，HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃；

日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需ZD300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。

日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑，占地面积小，但分辨率不输大型电镜，同时操作其简便，几乎不用培训就可操作。紧凑型设计，分...

"Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌，包括作为SU8010的后续机型开发的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升 &q...

"Regulus系列"是日立高新技术的FE-SEM的全新品牌，包括作为SU8010的后续机型开发的 "Regulus8100" 以及SU8200系列的升 &q...

可搭载的最 大样品尺寸：“SU3800” 标配可搭载直径200mm样品的样品仓，可应对最 大高度为80mm、重量为2kg的样品。 “SU3900”作为日立高新技术的大型扫描电镜，标配可搭载最 大直径...

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials I...