Bruker纳米材料表面分析

M4 TORNADO PLUS能够检测、分析从碳（C）到镅（Am）全元素的微区XRF成像光谱仪。作为久经验证、市场领先的M4 TORNADO微区XRF分析仪系列的zui新成员，M4 TORNADO P...

D8 DISCOVER是一款多功能X射线衍射仪，专为在环境条件和非环境条件下对各种材料进行结构表征而设计。它配备多种前沿技术组件，适用于定性相分析、定量相分析、结构测定、微应变和微晶尺寸分析等多种应用

Dektak Pro™ 以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、台阶高度、应力、表面粗糙度和晶圆翘曲测量方面广受赞许。第十一代Dektak®系统，具有4Å重复性的卓越表现，并提供200毫米平台选项。

X射线衍射（XRD）是在环境或非环境条件下从几乎任何类型的样品中提取结构信息的方法，而不论其形状、大小或成分如何。 因此，对X射线衍射仪的最主要需求就是对开放的设计和模块化，以及大限度的用户友好...

布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber-P1 ——用于企业研发和故障分析中 300mm 晶圆应用的电动系统

布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber TT 具有平面内磁铁的低成本台式 CIPT 系统，适用于研究和开发

Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE ——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量

FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案，可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。 ...

FilmTek™ 2000M TSV计量系统为半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度，包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔（TSV）、铜柱、凸块和再分...

FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了FilmTek技术，为从研发到生产的几乎所有薄膜测量应用提供了业界领先的精度、精度和多功能性。其标准的小点测量尺寸和模式识...

——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射

Bruker全自动原子力显微镜InSightCAP紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSightCAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。

Bruker布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD ——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统

Bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求 Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射...

bruker VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪 VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光谱仪采用主动准直的 UltraScan™ 干涉仪，能够为您带来极佳...

VERTEX70v为要求严格的分析和研究应用提供了超高性能。极具创新意义的设计成就了该系列谱仪极佳的灵活性和卓越的性能。数据采集使用delta-sigma自激型数/模转换器，该转换器具备真正的24位A...