Bruker纳米材料表面分析

布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber-P1 ——用于企业研发和故障分析中 300mm 晶圆应用的电动系统

布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪SmartProber TT 具有平面内磁铁的低成本台式 CIPT 系统，适用于研究和开发

Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE ——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量

FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案，可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。 ...

FilmTek™ 2000M TSV计量系统为半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度，包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔（TSV）、铜柱、凸块和再分...

FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了FilmTek技术，为从研发到生产的几乎所有薄膜测量应用提供了业界领先的精度、精度和多功能性。其标准的小点测量尺寸和模式识...

——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射

Bruker全自动原子力显微镜InSightCAP紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSightCAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。

Bruker布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD ——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统

Bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求 Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射...

bruker VERTEX 80/80v 傅立叶变换红外光谱仪 VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光谱仪采用主动准直的 UltraScan™ 干涉仪，能够为您带来极佳...

VERTEX70v为要求严格的分析和研究应用提供了超高性能。极具创新意义的设计成就了该系列谱仪极佳的灵活性和卓越的性能。数据采集使用delta-sigma自激型数/模转换器，该转换器具备真正的24位A...

bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100 具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。 该系统占地面积小，所采用的简化方案...

ruker通用机械测试仪 （UMT） 平台自 2000 年推出型号以来，一直是市场上功能全、使用广泛的摩擦仪。现在，ZX设计的UMT TriboLab™基于多功能的设计传统构建，具有独特的模块，实现了

能强劲，模块化的原位扫描电镜联用纳米力学测试系统The Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同时进行定量纳米力学测试

ysitron TS 77 精选是自动化台式纳米力学和纳米摩擦测试系统，可提供同类仪器的高性能、多功能和易用性。这种新型测试系统以布鲁克著名的TriboScope电容式传感器技术为设计，在纳米至微米尺