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上海尔迪仪器科技有限公司
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- 品牌：德国布鲁克
- 型号：FilmTek 2000 PAR-SE
- 产地：欧洲 德国
Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE ——用于几乎所有先进薄膜或产品晶片测量的先进多模计量
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Bruker FilmTek CD椭偏仪价格：面议- 品牌：德国布鲁克
- 型号： FilmTek CD
- 产地：欧洲 德国
FilmTekTM CD光学临界尺寸系统是我们解决方案，可用于1x nm设计节点及更高级别的全自动化、高通量CD测量和高级薄膜分析。该系统同时提供已知和完全未知结构的实时多层堆叠特性和CD测量。 ...
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- 品牌：德国布鲁克
- 型号：FilmTek 2000M TSV
- 产地：欧洲 德国
FilmTek™ 2000M TSV计量系统为半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度，包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔（TSV）、铜柱、凸块和再分...
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- 品牌：德国布鲁克
- 型号：FilmTek 2000 PAR-SE
- 产地：欧洲 德国
FilmTek™ 2000标准杆数-SE光谱椭圆偏振仪/多角度反射仪系统结合了FilmTek技术，为从研发到生产的几乎所有薄膜测量应用提供了业界领先的精度、精度和多功能性。其标准的小点测量尺寸和模式识...
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