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KLA单点膜厚测量仪F20价格：面议- 品牌： 美国KLA
- 型号：F20
- 产地：美国
KLA的 Filmetrics 系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从 nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精
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KLA全自动膜厚测试仪F60价格：面议- 品牌： 美国KLA
- 型号：F60
- 产地：美国
一、 简介KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量，其测量范围从nm-mm，可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量，被广泛应用
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上海纳腾仪器有限公司
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