In-Situ原位测试

阴较为荧光系统（Cathodoluminescence, CL）通常配置在扫描电镜或透射电镜中，能够实现形貌观察、结构和成分分析同阴较为荧光光谱的结合研究，实现全光谱荧光扫描成像。

Norcada提供科学领域的mems器件的定制设计和制造，以满足客户的具体要求。这种定制设计包括非标准尺寸、较薄的膜、多窗口阵列和带图案电较为的窗口。

Norcada提供了广泛的MEMS电偏压和电化学芯片。Norcada还可以提供客户定制的软件包，包括用于基于 STXM的应用程序的支架和MEMS芯片。

InSEM HT（高温）通过在真空环境中单加热尖端和样品来测量高温下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT与扫描电子显微镜（SEM）和聚焦离子束（FIB）或立真空室兼容。

TNI LF-2000是目前市面上基于SEM电镜下使用的自动化程度高的纳米操作系统，也是一种能够在SEM电镜下提供可重复定位、低漂移、闭环运动控制定位的纳米操作系统。

NanoFlip产品既可以工作在真空环境下进行各种原位力学测试；也可以直接在大气环境下测试样品的硬度、杨氏模量或者其它物理力学性能。

LiteScope™扫描探针显微镜（SPM），便于集成到各种扫描电子显微镜（SEM）中。互补SPM和SEM技术的结合（CPEM）可以进行复杂的样品分析，包括表面形貌、机械性能、电性能、化学成分、磁性等