原子力显微镜

WinSPM EDU 系统荣获“全国教学仪器设备评比较好奖”,该奖项由国家教育装备委员会颁发，表彰其在纳米教育实验系统方面的创新设计、稳定性能和在全国高校广泛应用中的突出表现。

EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点，可高速获得高分辨率的三维图像，并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用，与常规SEM/FIB兼容，

CSI是一家法国科学设备制造商，拥有专业的AFM设计概念，以及为现有的AFM提供设计选项。它避免了激光对准需要预先定位针尖的系统，针尖/样品的顶部和侧视图，结合垂直的马达控制系统，使预先趋近更加容易。

Park Systems推出NX-3DM全自动原子力显微镜系统，专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角的测量而设计。

对于工程师来说，识别介质/平面基底的纳米级缺陷的任务是一个非常耗时的过程，Park NX-HDM原子力显微镜系统可以自动缺陷识别，通过与各种光学仪器的联用可以提高缺陷检测效率。

高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量，晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的，对于先进的元件制造商，芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制。

Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比，高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点。

Park Systems的PTR系列是针对全自动工业级线上的原子力显微镜解决方案，适用于（不限于）长形条、磁头万向节组件(HGA)级滑块以及单滑块的沉降自动测量。

Park NX12-Bio是一个强大的三合一生物研究工具，将扫描离子电导显微镜(SICM)与原子力显微镜(AFM)和倒置光学显微镜(IOM)融合在同一平台上。

傅立叶变化红外光谱(Fourier Transform infrared spectroscopy, FTIR)应用于各种化学分析，尤其是聚合物和有机化合物分析，为现代化学提供了重要的分析手段。

随着近些年对于纳米光子学、表面等离较为化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究，扫描近场光学显微镜已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。

sMIM是由美国PrimeNano公司联合美国顶尖高校（斯坦福大学）发展起来的一款基于AFM的电学测量设备。在测量样品表面形貌的同时得到样品的电学性质，如导电率，介电常数，载流子浓度，载流子类型等。

VertiSenseTM 扫描热学显微镜通过使用特殊带热电偶的针尖，扫描样品时，热电偶的温度，通过热信号成像放大器，通过AFM处理，同时得到热成像图和形貌图。

强大全面的分析能力，Park NX20具备的功能，可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。

Park XE15具备多个特殊功能，是共享实验室处理各种样品，研究员进行多变量实验，失效分析时研究晶片等的不二选择，合理的价格搭配强健的性能设置，Park XE15能够实现多样品一次性自动成像。

在同级产品中，Park XE7 能够带来纳米级分辨率的测量效果。得益于原子力显微镜架构，即立的 XY 轴和 Z 轴柔性扫描器，XE7 能够实现平滑、正交且线性的扫描测量，从而精确成像和测量样品的特征。