WinSPM EDU扫描探针显微镜教学实验系统

WinSPM EDU 系统荣获“全国教学仪器设备评比较好奖”,该奖项由国家教育装备委员会颁发，表彰其在纳米教育实验系统方面的创新设计、稳定性能和在全国高校广泛应用中的突出表现.

WinSPM EDU是专为高校纳米科技教学设计的扫描探针显微镜系统，集成多种成像模式，支持多种探针类型，搭载智能控制软件平台，广泛用于教学实验、课程开发与科研训练。

产品优势

· 无需激光调节，操作简便，安全性高

· 兼容压电自感知探针，实现力曲线与纳米压痕分析

· 小体积集成设计，便于教学实验部署

· 支持原子级分辨率，适合高等教育与科研训练

· 功能覆盖科研与教学多任务场景

·模块化设计，升级空间大，维护成本低

技术

技术规格

· 支持接触模式、轻敲模式、相位成像、频率调制成像等多种扫描模式；

· 较大扫描范围：20×20×3μm³,   较小分辨率优于0.1 nm;

· 平台支持样品较大尺寸：直径20 mm,  厚 度 ≤ 5 mm;

· 探针支持：自感知压电探针/激光调频探针；

·扫描控制器支持闭环反馈与图像拼接功能；

· 兼容光学模块与视频接口，支持在线监控；

· 软件平台支持：图像分析、高度统计、截面测量、3D 渲染等；

·硬件接口丰富，预留升级通道，兼容STEM 课程集成。

应用

教学实验方案
· 原子力显微图像成像实验

· 探针力学行为与纳米力曲线测量

· 表面形貌与微纳结构分析

· STM  成像原理验证(可选)

· 纳米成像数据处理与3D 图形分析

· 基于图像识别的样品分类实验

成像效果示例

· 二维材料原子阵列可视化

· 纳米颗粒团聚结构

· 生物样品膜结构

· 晶体台阶高度分析

典型应用领域

·半导体工艺教学与失效分析

· 材料科学研究

· 光电器件表征

· 表面工程与粗糙度分析

· 微纳加工课程支持

· 高等院校与科研机构通识纳米实验平台