Park FX40
纳米科学研发界应运而生的的
新型全自动原子力显微镜
该产品可以通过多样化的应用程序,不费吹灰之力即可获得最敏锐、最清晰、最高分辨率的扫描图像。
通过前所未有的速度和精度,推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致,全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警系统和故障自动保险、同步化信息提取和存储,让即便是未经原子力显微镜专业培训的研究科学家们也可以轻松快速地获得最满意的扫描结果。
纳米级的显微镜
硬核级的科技进步
- 鼎力相助时代前沿的科技研发
- 研究型AFM中S次采用的双摄像头系统
- 能全自动化实时更新海量数据
实现全自动技术的智能原子力显微镜
Park FX只需鼠标一键操作,就能实现自动换针,以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。用户还可以根据提示,选择不同的探针类型,应用类型和使用信息等。
通过自动换针方式,用户可轻松安全地进行自动换针。利用装有8个针盒和磁控机制的便利性,用户无需操作便可安装探针。
探针识别摄像头可以加载探针芯片载体上的二维码,提取并显示每个可用探针的探针类型,应用类型和使用信息等全部相关信息。
自动激光校准功能将SLD光定位到悬臂梁的适当位置,并进一步分别优化PSPD的垂直和横向位置。用户只需简单点击,移动X,Y和Z轴便可得到毫不失真的高清扫描图。
双摄像头系统
自动校准探针和样品位置
样品摄像头
样品台上最多可以同时放置四个不同量级的样品。即便如此,样品摄像头也可以毫不费力地定位到相关位置进行精确扫描。
探针识别摄像头
探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息(包括探针类型,应用类型和使用信息等)使研究工作事半功倍。只需一键便可轻松选择您所需要的探针。
智能自动化
FX40拥有一流的智能视觉系统,能自动检测探针是否正确定位。软件界面通过定位加载探针的位置至纳米级别,并在必要时生成错误状态报告,同时将这些数据与成千上万个可能发生的模拟问题进行比较,以此不断更新升级软件。
原子力显微镜中最快速精确的真正非接触模式
对于针尖样品,非接触模式展现了其一流的控制力,距离达到了亚纳米级别。Park FX40拥有史 无 前 例的快速且精确的非接触模式。
环境传感器
智能扫描仪显示并储存传感器的测量。传感器主要测量基本的环境条件,如温度,湿度,水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像,为您筛选最佳的环境指标。
安全的探针安装系统
用户可以自选手动或自动探针安装功能,同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告,从而有效提高测量精准度。
最佳AFM体验——专为FX设计的Park OS SmartScan
简易单击成像
设置
自动探针检测,自动激光校准
简要的教学动画分分钟让您学会如何进行样品放置以及仪器成像设置
1. 精准定位
定位样品位置
AFM自动执行悬臂的频率性扫描,接近样品的Z移动台, 然后自动聚焦,帮助您扫描任何您想要的区域。
2. 高清成像
自动识别探针
完成定位之后,系统会设置理想的参数,连接悬臂并扫描样品,直到为您扫出高解析度高分辨率的图像。

报价:面议
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Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量具有准确度好、可重复性好及针尖和样本损伤低等优点。
高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量,晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的,对于先进的元件制造商,芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制。
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CSI是一家法国科学设备制造商,拥有专业的AFM设计概念,以及为现有的AFM提供设计选项。它避免了激光对准需要预先定位针尖的系统,针尖/样品的顶部和侧视图,结合垂直的马达控制系统,使预先趋近更加容易。
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