拉曼光谱分析仪,拉曼光谱仪
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激光显微拉曼光谱仪XperRam200
SmartSPM先进原子力显微镜
SmartSPM扫描探针显微镜是第一个100%自动化的系统,它为所有AFM和STM模式下的纳米级先进材料研究提供了快速、计量和高分辨率测量的尖端技术。SmartSPM可以从达到100µm范围扫描到原子级分辨率扫描。它能够与光学光谱(SNOM、Raman、光致发光和TERS/SERS技术)无缝耦合。
概要
操作完全自动化
全自动激光-光电二极管准直
更换针尖简单方便
丰富的各种测量模式
系统调试速度快
分辨率/稳定性/精确度
闭环平板扫描器即可实现100µm大范围扫描,也可实现分子/原子分辨率扫描。
标准测量无需隔振系统。
低噪音传感器设计保证了在分子分辨率成像过程中也能打开闭环,获得准确的结果。
快速扫描
采用业界最高的高共振频率扫描器(XY>7kHz和 Z>15kHz),优化的扫描器控制算法可以轻松实现快速扫描。
标配几乎所有SPM模式,无需添加任何附件和额外成本
包括开尔文探针显微镜,压电响应力显微镜,纳米蚀刻和纳米操纵。
轻松升级到纳米拉曼光谱仪
SmartSPM无论从软件设计到硬件设计都能与拉曼系统进行无缝的耦合。
配置
测量模式
•空气中接触AFM;
•液体接触AFM(可选);
•空气中的半接触原子力显微镜;
•液体半接触原子力显微镜(可选);
•真正的非接触式原子力显微镜;
•动态力显微镜(DFM、FM-AFM);
•耗散力显微镜;
•Top模式;
•相位成像;
•侧向力显微镜(LFM);
•力调制;
•导电原子力显微镜(可选);
•I-Top模式(可选);
•磁力显微镜(MFM);
•开尔文探针(表面电位显微镜);
•单通开尔文探头;
•电容显微镜(SCM)
•电力显微镜(EFM);
•单通道MFM/EFM(“平面扫描”);
•力曲线测量;
•压电响应力显微镜(PFM);
•PFM Top模式;
•纳米光刻技术;
•纳米操纵;
•STM(可选);
•光电流成像模式(可选);
•伏安特性测量(可选);
•带音叉的剪切力显微镜(ShFM);
•音叉法向力显微镜。
SmartSPM扫描器和基座
闭环平板扫描器: 100 µm x 100 µm x 15 µm (±10 %)
扫描器非线性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪声水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz带宽,电容传感器打开);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz带宽,电容传感器关闭);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz带宽,电容传感器开)
高频扫描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz
X, Y, Z自动趋近:XYZ数字闭环控制,Z向马达趋近距离18mm
样品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm
样品定位:自动样品台范围:5 mm x 5 mm
定位精度:1µm
AFM测试头HE001
激光波长:1300nm
激光对生物样品无影响;
激光对光电测量无影响
系统噪声:< 0.03 nm
全电动:4步进电机用于悬臂和光电二极管自动对准;
探针通道:为外部操作和探针提供自由通道
顶部和侧向同时光路通道:带平消色差物镜,可同时10x,NA0.28顶部物镜和20x,NA0.42侧向物镜;
AFM测试头HE002
激光波长:1300nm
激光对生物样品无影响;
激光对光电测量无影响;
系统噪声:< 0.1 nm
全电动:4步进电机用于悬臂和光电二极管自动对准;
探针通道:为外部操作和探针提供自由通道;
顶部和侧向同时光路通道:带平消色差物镜,可同时高达100x,NA0.7侧向物镜和10x,NA0.28顶部物镜
*HE002不兼容液体模式。
光学显微镜
数值孔径:NA 0.1;
放大倍率:从85x到1050x(19英寸监视器,1/3英寸CCD);
水平视野:4.5~0.37mm;
手动变焦:12.5倍(电动变焦可选);
粗/精对焦单元:
兼容平显色差物镜:10x,NA 0.28和20x,NA 0.42和100x,NA0.7(取决于AFM测试头);
液体池(可选)
样品尺寸:φ25mm×2mm;
样品定位范围:5 mm x5mm;
定位分辨率:1um;
液体池尺寸:40mm x40mm x12mm;
液体体积:3ml;
液体可交换;
高压灭菌器和超声波清洗溶液池部件。
温控液体池(可选)
样品尺寸:φ25mm×2mm;
加热:最高60℃;
冷却:室温以下降至5℃;
样品定位范围:5 mm x5mm;
定位分辨率:优于1.5um;
液体池尺寸:40 mm x40 mm x12mm;
液体体积:3ml;
液体可交换;
高压灭菌器和超声波清洗液体池部件。
导电力AFM(选购)
电流范围:100fA~10µA;三档量程自动切换(1 nA, 100 nA 和 10 µA)
电压范围:-10~ +7V
电流噪声:≤60fA(1nA量程)
导电力AFM和KPFM模式可自动切换
侧向力和正交力音叉支架(可选)
兼容32,768kHz音叉;
两种固定音叉的PCB;
音叉振动的压电陶瓷激励;
集成低噪声前置放大器;
兼容侧向100倍物镜TERS\TEPL测量;
兼容顶部10x物镜
纳米压痕装置(可选)
最大载荷:5mN
负载噪声:小于100nN
位移噪声:小于0.2nm
光学系统的兼容性
红外激光对光学成像无干扰;
可升级至OmegaScope,用于光谱、光电、SNOM和TERS&TEPL操作
带光学显微镜支架的保护罩(可选)
隔声:30dB;
具备静电屏蔽功能;
具有环境控制输入输出接口;
100倍物镜的精细聚焦(可选):聚焦精度0.2mm;
湿度控制系统(可选)
相对湿度:10%-85%
湿度稳定性:±1%
软件系统
自动准直系统;
自动配置标准测量技术;
自动调节悬臂梁共振频率;
能够处理力曲线;
宏语言Lua,用于编程用户函数、脚本和小构件;
能用DSP宏语言对控制器进行实时编程,无需重新加载控制软件;
在坐标空间处理图像的能力,包括制作横截面、拟合和高达12级的多项式曲面减法;
FFT处理,具有在频率空间处理图像的能力,包括滤波和分析;
纳米蚀刻和纳米操纵;
高达5000x5000像素图像的处理能力。
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