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失效分析探针台 FA系列失效分析探针台FA8

面议 (具体成交价以合同协议为准)
纳腾 FA8 上海 徐汇区 2026-04-23 16:46:24
售全国 入驻:11年 等级:银牌 营业执照已审核
同款产品:探针台(7件)
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产品特点:

FA8失效分析探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备,具光学特性、激光特性,设备结构稳定,系统性能优异,人体工程学设计,操作便捷,支持多功能升级,产品功能丰富齐全。

产品详情:

FA8失效分析探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备,具光学特性、激光特性,设备结构稳定,系统性能优异,人体工程学设计,操作便捷,支持多功能升级,产品功能丰富齐全。


基本信息

产品型号FA8工作环境开放式
电力需求220VC,50~60Hz操控方式手动探针台
产品尺寸960mm长*850mm宽*1500mm高设备重量约260KG


应用方向

常温和高低温环境下的芯片失效分析、射频特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析、芯片内部线路/电较为/PAD测试、IC/面板内部线路修改/去层


技术

失效分析探针台
规格FA8FA8-SC
外形960mm长*850mm宽*1500mm高880mm长*860mm宽*1550mm高
重量约260KG约280KG
电力需求220VC,50~60Hz
样品台尺寸8英寸,可360度旋转
行程X-Y行程8*8英寸
移动精度1um
样品固定方式真空吸附真空吸附
温控范围-﹣80~200℃
快速拉出-
特殊运用电学较为立悬空,可作为背电较为使用
针座平台规格U型平台,较多可放置10个针座O型平台,较多可放置12个针座
行程&调节方式平台可以快速升降,行程 6mm并带自动锁定功能;
光学特性显微镜行程X-Y轴行程2英寸*2英寸,Z轴:50.8mmX-Y轴行程1英寸*1英寸,Z轴:50.8mm
放大倍数20~4000X
镜头切换时操作快速倾仰/气动升降
CCD像素50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)
激光特性波段波长可选择1064/532/355/266nm波段
功率输出功率2.2mJ/pulse (可升级)
微加工能力可加工材质:Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/Poly Silicon/Mo/SiN/CF内杂质等
精度较小可加工精度1*1um(配置100X镜头时)
冷却方式可选择风冷激光或水冷激光
点针规格X-Y-Z行程12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm
机械精度2微米/0.7微米/0.1微米
漏电精度10pA/100fA (配置屏蔽箱时)
接口形式香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴接口
可选附件卡盘快速拉出装置卡盘快速拉出装置
液晶热点侦测套装液晶热点侦测套装
高压/大电流测试套装高压/大电流测试套装
加热台-
屏蔽箱屏蔽箱
转接头转接头
防震台防震台
镀金卡盘镀金卡盘
同轴叁轴卡盘同轴叁轴卡盘
样品台快速升降,微调升降装置选件-
光强/波长测试选件光强/波长测试选件
射频测试附件射频测试附件
有源探头有源探头
低电流/电容测试低电流/电容测试
光纤夹具耦合测试选件光纤夹具耦合测试选件
封装器件夹具封装器件夹具
PCB/封装夹具测试选件PCB/封装夹具测试选件
特殊定制特殊定制
应用方向常温和高低温环境下的芯片失效分析

特点
失效分析实验室专用大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计,定位准确
可做LC液晶热点侦测激光较小可加工精度1*1um
激光可选择性去除特定材料而不损伤下层芯片内部线路/电较为/PAD测试
适用于IC/面板内部线路修改/去层射频特性器件失效分析
可升级用于12英寸以内样品测试材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析


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