外量子效率测量系统

发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件，相应的物理特征表现值是外量子效率，通常通过电致发光（EL）方法测量。 为了获取以上的相关数据，滨松设计了外量子效率测量系统C9920-12系统。OLED器件的发光效率取决于各种因素，例如各层膜和玻璃基板的吸收率，表面的反射率，玻璃基板的辐射角和波导能力，所以滨松通过采用集成球作为样品室来抵消这些因素造成的影响。