半导体研发测试

DE 四探针电阻率电导率测试仪Resmap168Resmap168型四点探针测试仪是专门为光伏电池生产企业设计的一款产品。提供可靠，准确和重复性好的四点探针测试技术。168型带自动传送功能，从提高了产

esmap273在178型的技术基础上，ResMap273是半导体行业首款30毫米桌面四点探针仪。273型扩展了ResMap原来一些产品的性能，实现了太阳能对210毫米大型衬底的要求。外形小巧，坚固耐

EX12M 光伏组件量子效率测量系统 QEX12M太阳能电池组件/光伏组件/太阳能电池板量子效率测试/QE测量/光谱响应测试/SR测量/IPCE测试系统(QEX12M Solar Module/Sol

品特点： ?非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。?高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k

品特点：?椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。?0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。?400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。?可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据

品特点：?400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。?自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。?采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。?搭载薄膜分析所需的全

品特点：?薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。?高性能的低价光学薄膜测量仪。?藉由反射率光谱分析膜厚。?完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。?无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手

品特点：?自由搭配的光纤架构，可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。?远端同步控制、高速多点同步测量等。?丰富多样的光学系统套件与应用软件，提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。产品架构

品特点：?光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。?可依据安装现场需求评估设计。?可灵活架设于各种环境下的**即时测量系统。测量项目：