1.使用的便利性： 全新的全谱解析算法，可实现多材料宽元素范围图谱的全自动解析而无需人工干预，有效提升无标定量和复杂应用的分析结果可靠性； 2.维护的可靠性： 无漂移设计，内置多...

DDCOM 用于超快速晶体取向测量 用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。

用于晶体取向测量的 SDCOM 小型衍射仪 用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。 Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiN...

Wafer XRD用于全自动晶圆拣选、生产和质量控制。

Omega/Theta XRD为测定晶面取向提供了卓越的综合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短10 秒内返回结果，具有从条形码阅读器到晶体堆叠支架的许多工艺附件，可容纳重量达 30kg...

XRD 系列 晶圆和铸锭快速准确的晶向定位 从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查,我们的晶向定位解决方案在设计时考虑到了晶棒、铸锭、切片和晶圆的全部应用场景。此系列产品利用XRD分析...

极大程度减少更换样品时所需的时间，提高系统利用率;在不影响数据质量的情况下更高效的分析样品;在一个样品盘商，可以应用不同的测试方法，如粒径、电位、MADLS、浓度等。

马尔文帕纳科激光粒度仪Mastersizer 3000+在广受赞誉的 MS3000硬件平台上，进一步优化性能，增加了多项智能辅助功能，让设备更易用，结果的确信度更高。

新一代 NanoSight Pro 的推出，马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA 解决方案。 先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplo...

机器稳健可靠 高处理量 可重复的结果 机器易于集成、安装和使用

专利的光栅耦合干涉（Grating-Coupled Interferometry，GCI）技术，赋予WAVE系统超越传统SPR技术的检测灵敏度和时间分辨率。不同于SPR技术，Creoptix WAVE...

为更好的适应国六燃油标准中，较低浓度的硫氯检测需求，马尔文帕纳科Z新推出的Epsilon1 国六燃油版硫氯分析仪，内置出厂校准的硫氯分析标准，使该仪器即使在不使用氦气的情况下，硫氯测量结果都可以满足国...

2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 （WDXRF） 圆晶分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圆晶分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计，该仪器可为多种晶片（厚达 300 ...

直接洞悉您的生产过程 通过使用 Epsilon Xflow 进行在线液体分析，可以快速准确地控制过程参数。 增强的法规和质量规范推动对持续工艺流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的实时洞察...

MicroCal PEAQ-DSC 提供灵敏度高、易于使用的微量热法，帮助减少与稳定性试验和相似性分析相关的时间和成本。 MicroCal PEAQ-DSC 为配备清洁设备的手动仪器，可根据需要升级...