DDCOM 用于超快速晶体取向测量 用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。

用于晶体取向测量的 SDCOM 小型衍射仪 用于单晶（晶锭和晶圆）的材料研究、生产和质量控制的台式XRD设备。 Si | SiC | 金刚石 | AIN | GaAs | 石英 | LiN...

Wafer XRD用于全自动晶圆拣选、生产和质量控制。

Omega/Theta XRD为测定晶面取向提供了卓越的综合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短10 秒内返回结果，具有从条形码阅读器到晶体堆叠支架的许多工艺附件，可容纳重量达 30kg...

XRD 系列 晶圆和铸锭快速准确的晶向定位 从全自动的在线分析到晶圆材料的快速质量检查,我们的晶向定位解决方案在设计时考虑到了晶棒、铸锭、切片和晶圆的全部应用场景。此系列产品利用XRD分析...

X'Pert 平台在马尔文帕纳科 X 射线衍射系统的新型 X'Pert³ 系列中得以延用。 X'Pert³ 平台具有新型机载控制电子装置，符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，已准备好迎接...

作为马尔文帕纳科第三代Empyrean锐影，该多功能X射线衍射仪的“MultiCore”多核光路系统，无需人工干预即可实现多种类的不同测量。 Empyrean 锐影具有在一台仪器上测量多种类样品的能力...

Aeris X 射线台式衍射仪将给您留下深刻印象，数据质量和数据采集速度目前只有在大功率系统上才能实现。 这个小巧的仪器结合了简单的测量与一步样品装载装置，以及一个直观简洁的用户界面，通过其内置触摸屏...