仪器网首页 欢迎您: 请登录 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
发求购 学知识 提问题 查标准 找商机 手机版
官方微信
马尔文帕纳科
主营产品:激光粒度仪,粒度分析仪,X射线衍射仪,X射线荧光光谱仪,GPC
400-630-6902
仪器网仪网通会员,请放心拨打!
产品中心
 
当前位置:首页>产品中心>马尔文帕纳科2830 ZT 晶圆分析仪
马尔文帕纳科2830 ZT 晶圆分析仪
  • 品牌:马尔文帕纳科
  • 型号: 2830 ZT 晶圆分析仪
  • 产地:英国
  • 样册:暂无
  • 供应商报价: 面议
点击这里给我发消息在线留言
收藏  关注度: 3386
马尔文帕纳科2830 ZT 晶圆分析仪 核心参数
仪器种类: 台式
详细介绍

特点

持续的性能和速度

传统 X 射线管会出现钨灯丝挥发,从而导致光管铍窗内部出现沉淀物污染铍窗。 使用此类 X 射线管的仪器需要定期进行漂移校正以补偿下降的强度,尤其是对于轻元素而言。 

2830 ZT 配置SuperQ 软件,该软件包含了 FP Multi - 一个专门针对多层分析开发的专用软件包。 该软件的用户界面确保即使是没有经验的操作员也可以对多层进行全自动的基本参数分析。
该仪器的 SuperQ 软件具有多种易于使用的模块,这些模块能够方便研究者和工程师进行灵活的操作。 可以轻松切换配方和调整设备参数以适应用户偏好。

FALMO-2G

​可轻松集成到任意实验室或晶片厂中:从简单的人工托架装载到全自动。 完全灵活的设计让晶片厂经理能够选择 FOUP、SMIF 或开放式装入端口,配有一个或两个装入端口配置。 各种配置的 FALMO-2G 均受到符合 GEM300 的软件支持。 FALMO-2G 的占地空间大大降低,而没有损失灵活性、功能。 


产品优势
2830 ZT 波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 圆晶分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圆晶分析仪专门针对半导体和数据存储行业而设计,该仪器可为多种晶片(厚达 300 mm)测定层结构、厚度、掺杂度和表面均匀性。
仪企号 
马尔文帕纳科
友情链接 

X您尚未登录

会员登录

没有账号?免费注册
 下次自动登录忘记密码?
在线留言
官方微信

仪器网微信服务号

扫码获取最新信息


仪器网官方订阅号

扫码获取最新信息

在线客服

咨询客服

在线客服
工作日:  9:00-18:00
联系客服 企业专属客服
电话客服:  400-822-6768
工作日:  9:00-18:00
订阅商机

仪采招微信公众号

采购信息一键获取海量商机轻松掌控