-
认证会员 第 2 年
上海麦科威半导体技术有限公司
认证:工商信息已核实
- 产品分类
- 品牌分类
- ( 美国)美国WESTBOND
- ( 美国)美国FSM
- ( 立陶宛)立陶宛light conversion
- ( 美国)美国Magnitude Instruments
- ( 美国)美国Neocera
- ( 美国)美国OAI
- ( 美国)美国NBM
- ( 荷兰)荷兰TSST
- ( 美国)美国Angstrom
- ( 芬兰)芬兰BENEQ
- ( 美国)美国VEECO
- ( 英国)英国爱丁堡
- ( 美国)美国Ultrafast
- ( 台北)台湾SYSKEY
- ( 闵行区)上海makeway
- ( 美国)英国SULA
- ( 英国)英国DMO
- ( 英国)英国AML
- ( 美国)美国lakeshore
- ( 德国)德国海德堡
- ( 德国)德国phystech
- ( 日本)日本SAMCO
- ( 英国)英国KP
- ( 法国)法国JFP
- ( 英国)英国NanoMagnetics
- ( 德国)德国SENTECH
- ( 奥地利)奥地利EVG
- ( 法国)法国IBS
- ( 法国)法国Annealsys
- ( 德国)德国Unitemp
- ( 韩国)韩国ECOPIA
-
仪企号
上海麦科威半导体技术有限公司
-
友情链接
-
- 品牌:美国Ultrafast
- 型号:Helios
- 产地:美洲 美国
HELIOS是一款自动化飞秒瞬态吸收光谱仪,它设计用于各种飞秒放大激光器,包括高能量Ti:Sapphire飞秒放大器和高重复率Yb飞秒放大器。
-
- 品牌:英国爱丁堡
- 型号:RMS1000
- 产地:欧洲 英国
-
爱丁堡-稳态/瞬态荧光光谱仪FLS1000价格:¥1600000- 品牌:英国爱丁堡
- 型号:FS1000
- 产地:欧洲 英国
FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪,专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度,可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置,寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。
-
爱丁堡一体化荧光光谱仪FS5价格:面议- 品牌:英国爱丁堡
- 型号:FS5
- 产地:欧洲 英国
FS5是爱丁堡仪器打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。仪器基于高标准进行设计,具有高灵敏度,快速数据获取,操作简单的特点,同时还有丰富的样品支架可以进行选择。
-
爱丁堡//纳秒瞬态吸收光谱/激光闪光光解光谱仪LP980价格:¥4900000- 品牌:英国爱丁堡
- 型号:LP980
- 产地:欧洲 英国
爱丁堡LP980是LP920激光闪光光解光谱仪的升级型号,使用Nd:YAG激光器或者OPO作为强脉冲激发光源,高能量的氙灯作为探测/背景光源,进行瞬态吸收光谱的测试。
-
- 品牌:立陶宛light conversion
- 型号:HAPPIA-TG
- 产地:欧洲 立陶宛
HARPIA-TG是一种瞬态光栅光谱仪,用于测量载流子扩散和寿命。测量基于激光诱导瞬态光栅(LITG)技术。该方法可以通过全光学手段同时观察非平衡载流子复合和扩散。
-
- 品牌:立陶宛light conversion
- 型号:HARPIA-TA
- 产地:欧洲 立陶宛
HARPIA 综合光谱系统在紧凑的空间内可以完成多种复杂的时间分辨光谱的测量。它提供直观的用户体验和方便的日常维护,满足当今科学应用的需求。
-
- 品牌:美国Magnitude Instruments
- 型号:enVISTA
- 产地:美洲 美国
enVISTA,作为便捷且性能优异的TA光谱系统,通过简单培训,就可以适用于公共实验室,多学科研究小组、本科生及研究生实验室。
-
中红外纳秒瞬态吸收/闪光光解光谱仪价格:面议- 品牌:美国Magnitude Instruments
- 型号: inspIRe
- 产地:美洲 美国
The inspIRe™ 利用噪声抑制技术,提供了100 ΔnanoO.D.检测限,用完整的2D数据记录了吸收信号随时间和波长变化,它为中红外TA光谱新兴科学的测量手段提供了新的发展方向。化学家、物理...
-
- 品牌:德国phystech
- 型号:FT1030
- 产地:欧洲 德国
PhysTech在1990年推出了台数字DLTS,随着电脑技术的发展,使得在短时间内进行复杂计算成为可能。在纯指数发射过程模型的基础上,用各种数学模型分析测量到的瞬态过程,如傅里叶转换、拉普拉斯转换、...
-
深能级瞬态谱仪DLTS价格:面议- 品牌:德国phystech
- 型号:FT1230
- 产地:欧洲 德国
此设备根据半导体P-N 结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱(DLTS)的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱,是一种具有很高检测灵敏度的实验方法,能检测半导体中微量杂质、缺...































