超高分辨双束FIB-SEM系统 核心参数
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详细介绍
S8000G FIB-SEM
S8000G是TESCAN-S8000系列扫描电镜的新成员,是一款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点: 镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力 首次配置的静电
S8000 系列(NEW ! )S8000G FIB-SEM
S8000G是TESCAN-S8000系列扫描电镜的新成员,是一款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。
S8000G FIB-SEM的优点:
· 镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力
· 首次配置的静电-电磁复合物镜,物镜无磁场外泄,实现磁性样品高分辨成像及分析
· 配置4个新一代探测器,可实现9种图像观测,对样品信息的采集更加全面
· 配置大型样品室,有超过20个扩展接口,为原位观测、分析创造了良好的工作环境
· 可以配置TESCAN自有或第三方的多种扩展分析附件,并实现与TOF-SIMS、Raman联用
产品优势
S8000G是TESCAN最新S8000系列扫描电镜的第一个新成员,是一款超高分辨双束FIB-SEM系统,它可以提供无与伦比的图像质量,具有强大的扩展分析能力,并能以极佳的精度、效率完成复杂的纳米加工和操作,可满足现今工业研发和学术界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的优点: 新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力