米粒度分析仪 产品简介法国Cordouan 生产的Vasco kin 纳米粒度分析仪用于复杂介质中纳米颗粒的粒度表征,其性能远优于目前市面上流行的动态光散射法纳米粒度仪。经过短短四年的发展,
高分辨率纳米粒度和Zeta电位分析仪是基于动态光散射(DLS)和激光多普勒电泳(LDE)技术,提供高分辨率,和快速的粒度和zeta电位测试和远程原位测试。
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