带您走进源表背后的故事

在半导体、汽车、医疗等高端制造行业，源表通常被用于半导体材料或精密器件的电性能特性测试和生产测试应用，以及中低电平测试和实验室研究使用。源表采用四象限工作模式，可以在提供精密电压、电流源的同时，又能够作为电压、电流、电子负载使用，集“源”和“表”的功能于一体。

源表，又叫做SMU(Source Measure    Unit)源测量单元，1989年出生，如今已过而立之年，以不可更改的姿态走过了一段峥嵘岁月。

Stage  1:进口源表称霸江湖二十载

1989年，D一台进口数字源表（SMU）诞生。在此后的二十多年时间里，市场被其垄断，占有率达到80%。受限于高端测试装备的基础研究不足，以及缺乏先进工艺等因素，多年时间内，国内没有一家企业能实现源表的自主研发。

九十年代中期，国内开始引进进口的数字源表。在国内的研究中，数字源表主要被用于特定材料和精密器件的实验和测试环境搭建。但由于进口源表价格昂贵，且供货周期长，中小企业不堪重负，在电子课程教学和实验室中也未能广泛应用。

而电性能特性又是表征半导体材料和精密器件性能的重要指标，随着半导体等高科技行业的勃发，高端检测设备在产业链上呈现出巨大的需求。

Stage  2:加速替代“舶来品”，国产化源表跻身市场

2015年，面对国内市场的迫切需求，武汉普赛斯仪表有限公司率先开始对源表进行研究开发。对其工作框架的逻辑关系、主要功能电路、主要算法都进行了系列研究，依托领先的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势，普赛斯成为国内率先自主推出数字源表的企业。

自此，国产化源表打破了国外的技术壁垒，实现进口替代。且价格优势明显，服务响应迅速，得到国内通信巨头的认证。

时隔八年，国产化数字源表的发展虽然较为缓慢，但得益于巨大的市场需求驱动，众多高端仪器设备厂家纷纷入局，国产化源表呈现“百花齐放”的态势。

Stage   3:八年磨一剑，是开路人也是攀登者

国产化源表的研究开发先后经历了引进、发展、创新三个阶段。起初，由于国内对于数字源表的研究还处于刚起步阶段，市场上的国产化源表虽然在功能上实现源、测的功能，但是在整体性能和进口源表还有一定的差距，例如测量精度、测量速度以及长期稳定性等。

普赛斯仪表深耕半导体电性能测试领域。八年磨一剑！核心产品数字源表的功能不断升级完善，于2023年初推出SXXB系列高精度数字源表，操作更加智能和便捷，测量精度进一步提高至±0.03%，Z大直流电流升级至3A，以适用于更复杂和精密的测量环境。

此外，基于核心的数字源表，普赛斯仪表攻克一个又一个技术难关，横向拓展了脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表、高精度的超大电流源、高精度高压电源、数据采集卡等一站式国产化电性能测试仪表，实现了半导体全产业链的测试需求覆盖。

数字源表的优势：

性能强大-作为电压源和或电流源，并同步测量电流和或电压，支持四象限工作。可以限定电压或电流输出大小，预防器件损坏。覆盖3pA-3A的电流范围100μV-300V的电压范围，全量程测量精度0.03%。

灵活多样-支持两线制和四线制测量，更准确的低内阻量测;集成线性阶梯扫描、对数阶梯扫描、自定义扫描等模式;专业l-V特性及半导体参数测试软件。

易学实用-简化了如I-V和l-t/V-t曲线等各种应用的测量准备工作。电容式触摸屏图形用户界面(GUI),提供图形化和数字化两种测量结果显示模式，便于使用和查看。

提供的应用程

- 序列扫描

- 自定义序列

-  数据记录仪：持续输出恒压源测试模式；持续输出恒流源测试模式

- APD管

- 晶体管：MOSFET管测试；三极管测试

- LIV：PIN管扫描测试

-  Gummer：双台源表使用同样参数进行扫描