FIB 聚焦离子束显微镜

求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。采用理想的镜筒布局，从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机

TESCAN AMBER 是一款双束（FIB-SEM）聚焦扫描电镜系统系统，可以满足现今工业研发和学术界研究的所有需求，在提供无与伦比的图像质量的同时，可完成复杂的纳米操作并保证极佳的精度

TESCAN SOLARISZUI先进的纳米加工能力，挑战样品制备质量的极限 TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和

iFIB+ 氙等离子FIB镜筒 最大离子束流可达1 μA， 可实现超高刻蚀速率 分辨率 : < 15 nm 无与伦比的超大视野：1 mm @ 30 keV 快速精确的压电驱动光阑变换器...

TESCAN SOLARIS X 是一款氙（Xe）等离子超高分辨双束 FIB-SEM 系统，配置新颖的 TriglavTM 超高分辨率电子镜筒以及最新款的 i

快速、便捷的制备 使用 Sidewinder HT 离子柱获得高质量、现场特定的 TEM 和原子探针样品。 超高分辨率成像 使用在最广泛的样品范围（包括磁性和非导电材料）内具有一流性能的 T...

【特点与应用】 ☆最快的毫米级横截面材料去除，材料去除率比典型的Ga + FIB要快15,000倍 ☆通过在更短的时间内采集更大的体积来实现统计学相关的表面下和三维数据分析 ☆准确、可重复的切割...