半导体测试

BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领

BW-ITSM（方波 100μm-10ms/＜1000A,正弦波 100μm-10ms/＞3000A）可加热是SIC相关半导体器件测试的重要检测设备，可用于各类二管（Diode）以及可控硅（

【49/98工位. 3Pin】 【温补晶振补偿电压自动测试分析】 【US美国SA4220MR完全替代产品】 【独创的圆形内腔轴对称设计，循环气流控制技术-Leaded驱动测试环】 【精度：+/...

BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统，经我公司产品升级与开发，目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件进行参数测试，性能、精度、测试范围均满足

▶ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试 ▶ 系统基于 Lab VIEW 平台开发 ▶ 自动识别器件极性 、 NPN/PNP...