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陕西博微电通科技有限责任公司
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半导体分立器件测试

 
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BW-3010B  晶体管光耦参数测试仪(双功能版)
  • 品牌:博微
  • 型号:BW-3010B
  • 产地:陕西 西安
  • BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领

半导体光耦/晶振/压敏综合测试系统
  • 品牌:博微
  • 型号:BW-4022C
  • 产地:陕西 西安
  • BW-4022C半导体综合测试系统是针对于半导体器件开发专用测试的系统,经我公司产品升级与开发,目前亦可以对二极管、光电耦合器、压敏电阻、锂亚电池、晶振5种器件进行参数测试,性能、精度、测试范围均满足

半导体分立器件测试系统
  • 品牌:博微
  • 型号:BW-4022A
  • 产地:陕西 西安
  • ▶ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试 ▶ 系统基于 Lab VIEW 平台开发 ▶ 自动识别器件极性 、 NPN/PNP...