X射线衍射技术的发展方向

利用X射线在晶体物质中的衍射效应来分析物质结构的技术，叫做X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）。每一种结晶物质都有包括点阵类型、晶面间距等参数的晶体结构，是其特定的。用具有足够能量的x射线对试样进行照射，激发试样中的物质，会使得二次荧光X射线（标识X射线）产生。布拉格定律为晶体的晶面反射所遵循。通过对衍射角位置（峰位）的测定能够进行化合物的定性分析，通过对谱线的积分强度（峰强度）的测定能够进行定量分析，而且对谱线强度的测定，随着角度的变化关系能够检测晶粒的大小和形状。

发展方向

X射线分析的新发展方向，因为不断普及的设备以及技术，金属X射线分析以及慢慢变成了测试有机材料和纳米材料以及研究金属的比较常规的方法，并且还是用在动态测量上。早期一般使用照相法，照相法会消耗比较长的时间，对于测量长度来说，也不具备很高的精确度。在50年代初，计数器衍射仪法问世，它的优点是能够配备计算机控制，强度测量有较高的精确度以及速度较快等，应用非常的广泛。然而在微量样品和探索未知新相的分析中，使用单色器的照相法依然有其独有的特色。

从70年代以来，金属X射线因为出现的高灵敏度探测器以及包括高压脉冲X射线源，电子同步加速辐射以及超高强度的旋转阳极X射线发生器在内的高强度X射线源，从而使新的推动力获得。这些新的技术相结合，除了能够使分析速度大大的加快，使精度得以提高，而且能够进行对更为微弱或精细效应的研究以及瞬时的动态观察。