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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JXA-iSP100
- 产地:日本
XA-iHP100在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化EPMA。
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JXA-8530F Plus 场发射电子探针显微分析仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JXA-8530F Plus
- 产地:日本
2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了极高的赞誉。zuixin研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus,电子光学系统有了很大的改进,新的软件能提供更高的通量,并保持着极高的稳定性,能实现更广泛的EPMA应用。
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JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JXA-iHP200F
- 产地:日本
XA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化集成FE-EPMA。
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JXA-iSP100 电子探针显微分析仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JXA-iSP100
- 产地:日本
XA-iHP100在保持高局部微量元素分析性能的同时,追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作,是更先进的一体化EPMA。
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JXA-8230 电子探针显微分析仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JXA-8230
- 产地:日本
可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。
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光电子能谱仪
- 品牌:日本电子
- 型号: JPS-9030
- 产地:日本
JPS-9030 光电子能谱仪 JPS-9030配有静电透镜和分析器等JEOL多年的成功技术,具有高灵敏度和高分辨率,设计紧凑。特别是低加速电压和大束流离子枪使这款光电子能谱仪可以对不同厚度的薄膜进行样品表面原子层到微米级厚度样品层分析。样品室和刻蚀室真空是完全独立的,杜绝了污染,更好的保护超真空系统。
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场发射俄歇电镜
- 品牌:日本电子
- 型号: JAMP-9510F
- 产地:日本
JAMP-9510F这款场发射俄歇电镜具有世界上zui高的空间分辨率:zui小束斑直径3nm(二次电子图像)和8nm(俄歇电子图像)。使用多通道探头的新的半球静电能量分析器(HAS)优化了俄歇分析,适合化学态分析。中性离子枪可用于绝缘材料的俄歇分析。样品台可装直径达95nm的样品。并且此仪器可扩展为UHV-SEM。
- 电子探针/X射线微区分析仪
- 电子探针/X射线微区分析仪,电子探针/X射线微区分析仪