半导体参数测试仪半导体参数测试仪是一种集多种测量和分析功能于一体的测试仪器,可准确执行电流-电压(IV)和电容测量(CV(电容-电压)、C-f(电容-频率)以及 C–t(电容-时间)测量),并快速、轻松地对测量结果进行分析,完成半导体参数测试。半导体参数测试仪可为表征任务提供更高的性能、更强的可用性以及更高的效率。因此适用于从探索分析到自动测试的各种测量环境。
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WEP PN深度测试仪/扩散浓度ECV)
- 品牌:德国WEP
- 型号: CVP21
- 产地:德国
ECV/结深测试仪/扩散浓度分选仪 德国WEP公司的ECV(型号为CVP21)在太阳能光伏行业的应用非常普及,市场占有率甚至达95%以上,是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一,知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备:CVP21(见图) 1. ECV又名扩散浓度测试仪,结深测试仪等,即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布(见图); 2. 相比其他方法如SRP,SIMS等,ECV具有测量使用方便,价格低的优点;WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片,这也
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