AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。

SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品，配置超高分辨率与观察能力。此系列突破了传统SEM产品受安装样品尺寸与重量的限制，通过简单的操作即可实现数据采集。可用于钢铁等工业材料，汽车、航...

可搭载的Z 大样品尺寸：“SU3800” 标配可搭载直径200mm样品的样品仓，可应对Z 大高度为80mm、重量为2kg的样品。 “SU3900”作为日立高新技术的大型扫描电镜，标配可搭载Z 大直径...

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials I...

FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域。近年来，以Materials I...

通过使用日立 扫描探针显微镜 AFM100，任何人都能轻松且稳定地获取可靠数据，从而完成从科学研究用途到质量管理中的日常作业。

日立ArBlade 5000离子研磨系统能够实现高产量，并制备广域横截面样品。

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高纳米技术研究。由于球差校正系统校...

日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000，具有高稳定冷场发射电子枪，自动球差校正器，可一键操作实现自动球差校正，HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃；

日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需ZD300万倍稳定观察的先进半导体器件，高分辨成像所设计。

日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射 扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户...

日立高新技术公司于2016年4月15日在全球发布了新型扫描电子显微镜——FlexSEM 1000。该产品结构紧凑，占地面积小，但分辨率不输大型电镜，同时操作其简便，几乎不用培训就可操作。紧凑型设计，分...

此次推出的SU7000采用全新设计的探测器，使得对二次电子信号、背散射电子信号的检测以及分离能力大大提升。