日本HalfMoon/HalfMoon

品特色：将样品的非发光组件设置于积分球外部，可降低发光源被吸收所产生的误差，最适合用于光通量评价。以镜面反射，亮度（感度）达到2倍，提升测量精度。虚拟的对称配光，降低积分误差。搭配电源供应器，可自动变

品特点： ?非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。?高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱，分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率，k

品特点：?椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。?0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。?400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。?可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据

品特点：?400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。?自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。?采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。?搭载薄膜分析所需的全

品特点：?薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。?高性能的低价光学薄膜测量仪。?藉由反射率光谱分析膜厚。?完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。?无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手

品特点：?自由搭配的光纤架构，可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。?远端同步控制、高速多点同步测量等。?丰富多样的光学系统套件与应用软件，提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。产品架构

品特点：?光谱仪(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)提供丰富选配套件以及客制化光纤。?可依据安装现场需求评估设计。?可灵活架设于各种环境下的**即时测量系统。测量项目：

品特点：?优异的性价比，低价格却可达到相近于高端膜厚计的测量再现性。?中文化操作介面，入门简易、沟通无障碍。?提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。?采用标准样品验证膜厚精度与再现性，确保追

品特点： u即时性部量子效率测量。u大幅降低紫外光域的迷光现象，对高量子效率的样品展出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性

品特点： 可依据所测量的光电特性、温度特性评价LCD面板显示性能。可在-35℃～90℃的环境下，支援视角80°的360°视角锥测量(View

品特点： 从规划设计、开发制造、到现场安装调整及教学支援等，皆秉持一贯的品质自行完成。面对市场多元化的需求，以优异的技术、丰富的实绩、安心的售后

品特点： u关键性的光谱仪除采用高感度之高感度分光光谱仪(MCPD-7000)以外，亦可搭配新产品"高感度分光放射辉度计"及其相关套件达到更深度

品特点： u以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品