ICR红外滤光的作用是什么？

光纤激光器滤光怎么调：优化性能与提高稳定性的关键

在光纤激光器的应用中，滤光器的调节起着至关重要的作用。通过合理调节滤光器，可以有效改善激光器的输出质量，提升系统的稳定性，并在不同的应用场景中达到佳效果。本文将深入探讨如何调节光纤激光器的滤光器，以优化激光性能，同时避免常见的调节误区，为相关领域的工程师和技术人员提供实用的指导。

1. 光纤激光器滤光的重要性

光纤激光器在现代工业和科研中广泛应用，尤其是在精密加工、通信和医疗领域。激光器的性能和输出质量直接影响到其工作效率和适用范围。而滤光器则是影响光纤激光器性能的关键组件之一，它的主要功能是筛选掉不必要的频率成分，减少杂散光，提高激光束的质量和稳定性。

2. 如何调节光纤激光器滤光

调节光纤激光器滤光器的目标是根据激光的输出波长和频谱特性，精确地选择合适的滤光器并进行调节。以下是调节过程中的几个关键步骤：

2.1 选择合适的滤光器类型

滤光器的类型主要取决于激光器的应用需求和输出特性。常见的滤光器类型包括带通滤光器、长波通滤光器和短波通滤光器等。选择合适的滤光器类型是调节过程中的步，错误的选择会导致激光输出性能下降。

2.2 精确调节滤光器的波长范围

对于大多数光纤激光器，滤光器的调节需要确保其波长范围与激光器的输出波长匹配。通过调节滤光器的中心波长，使其与激光输出的波长相一致，从而大限度地减少无效波长的干扰，提升激光束的质量。

2.3 调整滤光器的带宽和透过率

滤光器的带宽和透过率是影响光纤激光器输出稳定性的重要参数。适当调整滤光器的带宽可以有效去除不需要的频谱成分，优化激光的光谱质量。透过率过高或过低都会影响激光器的输出功率，因此需要根据实际需求进行微调。

2.4 检查和校准

调节滤光器时，必须定期检查和校准激光器的输出。利用精密的光谱仪等检测设备，实时监控激光的波长、功率以及光谱分布，确保调节后的滤光器能有效杂散光并提高激光输出的稳定性。

3. 调节时需要注意的事项

在调节光纤激光器滤光器时，技术人员需要注意以下几点：

• 温度稳定性：滤光器的性能受温度变化的影响较大，因此调节时应考虑环境温度的稳定性，避免温度波动对滤光效果的干扰。
• 滤光器的光学质量：滤光器的表面质量和材料的光学特性直接影响其滤光效果。选择高质量的滤光器能够有效提高调节精度和稳定性。
• 系统匹配：滤光器的选择和调节不仅要考虑激光器本身的特性，还需考虑系统的整体性能。确保滤光器与光纤激光系统的其他组件相匹配，才能达到最佳效果。

4. 结语

光纤激光器滤光的调节是提升激光器性能、稳定性和效率的关键环节。通过精确调节滤光器的波长范围、带宽、透过率等参数，可以有效去除杂散光，提升激光输出的质量与稳定性。在进行滤光调节时，必须注意系统的整体匹配、环境温度等因素，避免影响终效果。对于技术人员来说，了解和掌握这些调节技巧，是保证光纤激光器高效稳定运行的重要保障。

       分析仪在测量总有机碳 (Total Organic Carbon，TOC)  时，都必须处理无机碳 (Inorganic Carbon，IC)。IC 是 指 CO2、HCO3-、CO32-里的碳。IC 的来源包括溶解的石 灰石和从空气中吸收的二氧化碳。几乎所有的样品水 中都含有有机碳和无机碳，它们统称为总碳 (Total  Carbon，TC)。 总碳（TC）= 有机碳（TOC）+ 无机碳（IC） 当样品中也含有无机碳时，分析仪就无法单独测量有机碳，因此大多数 TOC 分析仪就测量样品中的 TC 和 IC，然后相减，差值即为 TOC。

        TOC 分析仪也可以先吹除无机碳，然后再测量碳含量， 测量结果不含无机碳。此时测得的总碳即为样品的 TOC 。 该 测 量 值 也 称 为 “ 不可吹除 有 机 碳 （ NonPurgeable Organic Carbon,NPOC）”。  

TC = TOC = NPOC

       有些 TOC 分析仪既可以测量 IC，又可以去除 IC，从而 给操作员很大的操作灵活性，可以根据样品中的 IC 含 量来选择操作方法。当样品中的 IC 小于 TOC 时，分析 仪无需去除 IC 即可测得准确结果。分析仪可以直接测 量 IC，然后用 TC 减去 IC，即得到 TOC。

       但当 IC 较高且 TOC 较低时（例如，IC = 10倍的TOC）， 如果不去除或降低 IC，则 TOC 测量结果就会变得不稳 定。在下面的示例中，仪器测量 TC 和 IC 以计算 TOC， TC 和 IC 都很高（IC 是 TC 的组成部分），测量 TC 和IC 的仪器误差在Z终 TOC 计算值中占有很大比例。如 果在进行分析之前先去除或降低 IC，就能提高仪器的 分析性能。

       例如，样品中含 100 ppb TOC 和 1900 ppb IC。我们假 设仪器测量 TC 和 IC 的准确度为2％。一种情况是不去 除 IC，另一种情况是将 IC 降到 100 ppb（见表1）。

       在 IC 较高、TOC 较低的情况下，去除或降低 IC 能够提 高仪器的分析性能。一般来说，在使用 Sievers* TOC 分析仪时，如果 IC 高出 TOC 预期值的10倍以上，我们建议降低或去除 IC。

去除和降低IC的方法

有些 TOC 分析仪用气体来吹扫样品，以去除 IC，而剩 下的碳就是需要测量的有机碳。吹扫样品是去除 IC 的 有效方法，但需要考虑以下几个问题： 

1.吹扫气体的纯度（以免气体中的有机物污染样 品）。 

2.挥发性有机物的流失。 

3.如果不能 去除 IC，则留下的 IC 可能被报告 为 TOC，从而给分析系统带来误差。 

4.吹扫气体会增加成本、提高维护要求、延长样品 制备和分析时间。 

5.在 EPA TOC 方法 415.3（“确定水源和饮用水的总 有机碳含量和 254 nm 的特定紫外吸光度”）中， USEPA 规定 20 分钟的吹扫时间，气体流量为 100-200 毫升/分钟，确保将 IC 含量降到Z低，以 测量 TOC。在实践中，吹扫时间通常为 3-10 分钟， 具体时间可以根据仪器生产厂的建议和样品的特性而定。

表1. 去除和未去除IC的示例计算显示了对TOC结果的影响

       Sievers 技术采用无需气体的 ICR（无机碳去除器）来 降低 IC 含量。该方法已获得ZL，并获 USEPA 批准用于合规监测。

ICR的工作原理 

       在去除 IC 时，ICR 首先酸化样品，以将 IC 全都变成 CO2 的形式。酸化之前，IC 以离子形式和非离子形式存在。离子形式包括碳酸盐和碳酸氢盐，非离子形式为  CO2。 离子形式和非离子形式的含量比例取决于 pH 值。酸化 样品可以将 IC 全都转化为  CO2，以方便将其吹除。

CO2 → HCO3-→ CO32- 

低 ← pH 值 ← 高

       当分析仪探测到连接无机碳去除器（ICR）时，会自动 进行样品酸化，所使用的酸剂同正常 TOC 分析时使用的酸剂相同，因而无需添加其他试剂。样品酸化之后， 会流过 ICR 中能渗透 CO2的脱气模块。ICR 还配有真空 泵，用于将脱气模块外部抽成真空，以去除样品中的 无机碳（CO2）。内置的化学捕集器先“净化”通过脱气 模块的空气，去除空气中的全部有机物，以免污染样 品。IC 的去除率可达95-99％。无需去除 IC， 因为 Sievers TOC 分析仪会测量剩余的 IC，然后用 TC 减去 IC 得到 TOC。

       IC 含量被大大降低，从而提高了仪器的分析性能。这 种降低或去除 IC 的方法有以下优点。 

1.无需吹扫气体，因而成本较低，去除 IC 的过程更 简单。 

2.样品脱气同样品分析直接连在一起，因而无需花 额外时间来降低或去除 IC。 

3.此过程使挥发性有机碳（VOC，Volatile Organic  Carbon）的流失降低到Z少。进水中流失的 VOC 会降低进水和出水之间的TOC去除率的计算值。 

4.此过程由分析仪自动完成，无需人员手动操作。 

如果无需去除 IC，操作员可以用 ICR 的开启和关闭设置来绕过 ICR，方便地转换到正常监测模式。

应用建议 

当 IC 含量超过 TOC 的10倍时，应考虑使用 ICR。常见 的应用包括监测原始地表水和地下水。有时，降低或 去除 IC 也有利于监测成品饮用水。 

对于在线连续监测的应用，应对所有样品启用 ICR，并保持 ICR 的运行。ICR 安装在 Sievers M 系列实验室型、 便携式、在线型 TOC 分析仪的机箱内部，环保效果Z 佳，使用方便，占据空间小。

分析仪在测量总有机碳（Total Organic Carbon，TOC）时，都必须处理无机碳（Inorganic Carbon，IC）。IC是指CO2、HCO3-、CO32-里的碳。IC的来源包括溶解的石灰石和从空气中吸收的二氧化碳。几乎所有的样品水中都含有有机碳和无机碳，它们统称为总碳（Total Carbon，TC）。

总碳（TC）=

有机碳（TOC）+ 无机碳（IC）

当样品中也含有无机碳时，分析仪就无法单独测量有机碳，因此大多数TOC分析仪就测量样品中的TC和IC，然后相减，差值即为TOC。

总碳（TC）- 无机碳（IC）

实测值         实测值

= 有机碳（TOC）

计算值

TOC分析仪也可以先吹除无机碳，然后再测量碳含量，测量结果不含无机碳。此时测得的总碳即为样品的TOC。该 测 量 值 也 称 为 “ 不 可 吹 除 有 机 碳（Non-Purgeable Organic Carbon，NPOC）”。

TC = TOC = NPOC

有些TOC分析仪既可以测量IC，又可以去除IC，从而给操作员很大的灵活性，可以根据样品中的IC含量来选择操作方法。当样品中的IC小于TOC时，分析仪无需去除IC即可测得准确结果。分析仪可以直接测量IC，然后用TC减去IC，即得到TOC。

但当IC较高且TOC较低时（例如，IC=10倍TOC），如果不去除或降低IC，则TOC测量结果就会变得不稳定。在下面的示例中，仪器测量TC和IC以计算TOC，TC和IC都很高（IC是TC的组成部分），测量TC和IC的仪器误差在最 终TOC计算值中占有很大比例。如果在进行分析前，先去除或降低IC，就能提高仪器的分析性能。

例如，样品中含100 ppb TOC和1900 ppb IC。我们假设仪器测量TC和IC的准确度为2%。一种情况是不去除IC，另一种情况是将IC降到100 ppb（见表1）。

在IC较高、TOC较低的情况下，去除或降低IC能够提高仪器的分析性能。一般来说，在使用Sievers® TOC分析仪时，如果IC高出TOC预期值的10倍以上，我们建议降低或去除IC。

去除和降低IC的方法

有些TOC分析仪用气体来吹扫样品，以去除IC，而剩下的碳就是需要测量的有机碳。吹扫样品是去除IC的有效方法，但需要考虑以下几个问题：

吹扫气体的纯度（以免气体中的有机物污染样品）。

挥发性有机物的流失。

如果不能100%去除IC，则留下的IC可能被报告为TOC，从而给分析系统带来误差。

吹扫气体会增加成本、提高维护要求、延长样品制备和分析时间。

在EPA TOC方法415.3（“确定水源和饮用水的总有机碳含量和254 nm的特定紫外吸光度”）中，USEPA规定20分钟的吹扫时间，气体流量为100-200毫升/分钟，确保将IC含量降到最 低，以测量TOC。在实践中，吹扫时间通常为3-10分钟，具体时间可以根据仪器生产厂的建议和样品的特性而定。

表1. 去除和未去除IC的示例计算

显示了对TOC结果的影响

Sievers技术采用无需气体的ICR（无机碳去除器）来降低IC含量。该方法已获得专 利，并获USEPA批准用于合规监测。

ICR的工作原理

在去除IC时，ICR首先酸化样品，以将IC全都变成CO2的形式。酸化之前，IC以离子形式和非离子形式存在。离子形式包括碳酸盐和碳酸氢盐，非离子形式为CO2。离子形式和非离子形式的含量比例取决于pH值。酸化样品可以将IC全都转化为CO2，以方便将其吹除。

CO2 → HCO3- → CO32-

低 ← pH 值 ← 高

当分析仪探测到连接无机碳去除器（ICR）时，会自动进行样品酸化，所使用的酸剂同正常TOC分析时使用的酸剂相同，因而无需添加其他试剂。样品酸化之后，会流过ICR中能渗透CO2的脱气模块。ICR还配有真空泵，用于将脱气模块外部抽成真空，以去除样品中的无机碳（CO2）。内置的化学捕集器先“净化”通过脱气模块的空气，去除空气中的全部有机物，以免污染样品。IC的去除率可达95-99%。无需百 分之百去除IC，因为Sievers TOC分析仪会测量剩余的IC，然后用TC减去IC得到TOC。

IC含量被大大降低，从而提高了仪器的分析性能。这种降低或去除IC的方法有以下优点。

无需吹扫气体，因而成本较低，去除IC的过程更简单。

样品脱气同样品分析直接连在一起，因而无需花额外时间来降低或去除IC。

此 过 程 使 挥 发 性 有 机 碳（VOC ， VolatileOrganic Carbon）的流失降低到最 少。进水中流失的VOC会降低进水和出水之间的TOC去除率的计算值。 

此过程由分析仪自动完成，无需人员手动操作。

如果无需去除IC，操作员可以用ICR的开启和关闭设置来绕过ICR，方便地转换到正常监测模式。

应用建议

当IC含量超过TOC的10倍时，应考虑使用ICR。常见的应用包括监测原始地表水和地下水。有时，降低或去除IC也有利于监测成品饮用水。

对于在线连续监测的应用，应对所有样品启用ICR，并保持ICR的运行。ICR安装在Sievers M系列实验室型、便携式、在线型TOC分析仪的机箱内部，环保效果最 佳，使用方便，占据空间小。