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NexION 2000 ICP-MS 评估水样中锶双电荷对钙的影响 App Note(300005_CHN_01)

本文由 珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 整理汇编

2019-01-14 13:44 1489阅读次数

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    利用ICP-MS检测痕量钙(Ca)一直是一个难点,由于Ca自然丰度Z高的同位素(96.9%)为40Ca,与40Ar为同质异位素,使用常规方法无法测定。所以,通常对Ca进行检测的标准方法中推荐的质量数,U.S.EPA200.8为43;国内HJ700-2014为44,测定下限为26.4μg/L。而43Ca和43Ca的自然丰度分别仅有0.14%和2.1%,在测定过程中由于灵敏度较低,且干扰消除不完全,容易导致检出限偏高、结果精密度差等缺点。
    
 NexION2000ICP-MS的通用池技术可以使用各种高纯高反应性气体对质谱干扰进行去除,对于40Ca,可以使用1**%纯氨气(**电离能10.16eV)对40Ar(**电离能15.76eV)进行去除,获得亚ppb级的检出限。这得益于NexION2000可以调谐和优化通用池四极杆的RPq参数,使得高反应性气体的各种副产物干扰被彻底去除。

40Ar+ + NH3 → 40Ar + NH3+

ΔHr = ΔIP = -15.76 eV+10.16 eV = -5.60 eV ( 放热,反应自发进行)

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