场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)以其的像质和分辨率,在材料科学、生命科学、地质学以及工业检测等领域扮演着至关重要的角色。其核心在于利用场致发射电子枪产生的电子束,与样品相互作用后产生的二次电子、背散射电子等信号进行成像,从而获得微纳米尺度的形貌、成分和结构信息。本规程旨在为FE-SEM操作人员提供一套系统、严谨的操作指南,确保设备安全、稳定运行,并获得高质量的分析数据。
FE-SEM是一种精密仪器,操作不当可能导致设备损坏或数据失真。操作人员必须经过专业培训,熟悉设备结构、各部件功能及操作流程。
数据参考:
| 参数 | 典型值范围 | 影响 |
|---|---|---|
| 加速电压(kV) | 0.5 - 30 | 分辨率、穿透深度、表面敏感度 |
| 工作距离(mm) | 5 - 25 | 分辨率、像场大小、信号收集效率 |
| 真空度(Pa) | 样品室 $< 1 \times 10^{-4}$ | 电子束稳定性、样品污染、灯丝寿命 |
| 分辨率(nm) | 1.0 - 2.0 (at 15kV) | 图像细节清晰度 |
| 放大倍率 | 20x - 1,000,000x | 观察尺度 |
熟练掌握并遵循本规程,将有助于 FE-SEM 操作人员高效、安全地完成各项分析任务,并获得可靠的研究数据。
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