新闻动态丨BCEIA 2025圆满落幕天美集团旗下众多品牌集体亮相

本届大会特别设立 “BCEIA 40周年纪念展”，回顾BCEIA自1985年创办以来的发展历程，集中展示近十年跨越式发展成果。BCEIA见证我国分析测试技术从“引进吸收”迈向“自主创新”的跨越，也深度参与并推动了产业体系的形成与成熟，纪念展生动再现BCEIA伴随中国分析测试事业共同成长的历史画卷。由中国的天平工业的创始者——上海天平仪器厂（上海天美天平仪器有限公司前身）于1986年研发上市的MD 110-2上皿电子天平（分析电子天平）现场展出。

本届BCEIA展会天美展台倍受关注，仪器在现场演示介绍，小型seminar，产品专家与用户交流最新技术，展台活动精彩纷呈，吸引了众多高校、科研院所的专业观众、优秀的专家学者及院士参观的莅临指导。