哈尔滨工程大学物理与光电工程学院任晶教授团队在X射线成像领域取得重要进展。研究成果以“Intense radioluminescence from transparent CsGd2F7: Ce3+ nano-glass scintillator”为题发表在国际知名期刊《Journal of the European Ceramic Society》上。哈尔滨工程大学为该论文第一单位，任晶教授/张建中教授为共同通讯作者。今天小卓为大家分享该研究成果，希望对您的科学研究或工业应用带来一些灵感和启发。
应用方向：闪烁体、微晶玻璃、X射线成像
在X射线成像应用中，能够同时自校准温度和辐射剂量的闪烁体材料具有重要意义，尤其是在条件多变的环境中。传统测量方法往往依赖于单一波段发射强度的变化，需要额外的校准程序来保证测量精度。而采用荧光强度比（FIR）的传感器可以有效应对环境因素导致的光强变化，为非接触式测量提供了一种可靠方案。
图1. 纳米玻璃闪烁体的纳米级表征：（a）样品与 CsGd?F?晶体的 XRD 图谱（PDF用户速递 | 通过多点和双面锚定增强钙钛矿-基底界面的稳定性研究
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