直播亮点回顾
1. IC芯片测试配置方案
2. 并行IC测试验证解决方案的优势
传统测试方案通常需要整合多品牌和多种类仪器，分别搭建模拟和数字信号测试平台，结合多套设备、机架以及信号路由配置，花费较高的测试时间和系统成本。因此，并行测试是提高测试效率的有效解决方案，并行测试的主要优势有：
支持混合信号测试： 同时具备模拟和数字测量功能
高精度时间同步： 多个仪器应共享触发器和时钟源，提高系统测量精度
多仪器集成，自动化程度高： 多仪器使用统一编程语言配置，仪器间通过数字信号连接，减少物理接线和噪声
3. 基于可重构FPGA技术的并行IC测试验证平台
Moku 平台延续了“硬件可重构、软件可重配、功能可重组、需求可定义”的核心设计理念，将灵活性与高性能深度融合，为研发与量产测试提供前所未有的效率提升。通过可重构FPGA平台，测试工程师可以快速切换不同的测试功能，优化测试流程，缩短研发周期。Moku是基于FPGA的多功能电子测量平台，通过其可重构硬件架构与软件定义仪器技术，将超过15种仪器功能集成到一台设备中，允许用户在同一平台上同时进行多通道、高速测试，为IC测试提供了一整套灵活、高效且成本可控的并行测试解决方案。
4. 仪器演示
精彩问答
Q1:Moku 硬件平台架构如何实现多种测试测量，它如何在并行 IC 测试中脱颖而出？
Q2:Moku 上能支持AI测试吗？
Q3:使用上位机进行二次开发，可以支持什么语言？
答：我们提供丰富的 API 支持，包括 Python、MATLAB 和 LabVIEW，同时也支持 C 语言和 Java 等主流编程语言，实现测试流程自动化、数据处理加速以及与现有软件平台的无缝对接。详细信息请联系上海昊量光电来获取详细信息。
此次研讨会由于时间有限，许多观众提出的问题未能逐一解答。如果您对我们的产品感兴趣，或希望进一步探讨您的具体应用，欢迎点击“阅读原文”填写申请表，或直接联系上海昊量光电！
关于Moku
如果您对我们的Moku产品感兴趣，或希望进一步探讨您的具体应用，可通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。
北方区域负责人许工
南方区域负责人汪工
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