北京理工大学高培峰助理研究员和宋廷鲁高级实验师主编的《大型仪器开放实验项目指导书》，作为北京理工大学首套本科生开放实验项目指导书，近期由清华大学出版社出版发行。
内容介绍
书中精选了北理工7个专业学院、9个公共实验平台开设的48个大型仪器开放实验项目，涉及材料、化学、环境等多个学科领域。全书由30余名一线教学及管理人员共同编写，每个实验项目均围绕“实验目的→原理→基本要求→仪器与材料→操作步骤→数据处理→注意事项→案例与技术进展”的逻辑展开，涵盖基础实验、综合实验和创新实验等层次，具有较强的系统性、前沿性和实用性。书中更是将ULVAC-PHI飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）、X射线光电子能谱（XPS）等先进表面分析仪器与技术，纳入“新形态??材料科学与工程系列教材”实验教学模块，设置专门章节，为学生提供从仪器操作到实际应用的完整教学体系。
部分目录
第27章X射线光电子能谱技术在材料表面研究中的应用
27.1PET材料的XPS分析
27.2X射线光电子能谱的微区分析实验
第28章X射线光电子能谱技术在锂电池研究中的应用
28.1锂离子电池正极材料元素组成分析——XPS全谱分析
28.2铂钴/碳催化剂材料的化学价态分析——XPS精细谱分析
28.3固态电解质界面的深度成分分析——XPS深度剖析
第29章飞行时间二次离子质谱公安物证溯源应用研究及操作培训
29.1飞行时间二次离子质谱样品制备
29.2飞行时间二次离子质谱基本操作
29.3二次离子成像实验
29.4公安模拟物证案例样品分析实验
针对书中设计的完整实验项目，学生可系统掌握“XPS与TOF-SIMS样品处理、微区分析、表面成分与成像分析、深度分析、界面结构解析”等技术操作，实现“理论知识→实验操作→科研思维”的三维培养。其中，第29章《飞行时间二次离子质谱公安物证溯源应用研究及操作培训》更是亮点，首次详细讲解了TOF-SIMS应用于公安物证溯源的完整操作体系。如痕量物证溯源、未知样品成分鉴定等应用，展示了PHI Nano TOF系列在高灵敏度、高空间分辨率等方面的技术优势，为学生们展示了大型仪器的多元价值。
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阅读延伸 助力科研提升
在材料表征的教学与科研领域，表面分析技术已成为不可或缺的工具。作为表面分析技术的专业供应商，ULVAC-PHI 始终致力于为科研与教学提供先进的 TOF-SIMS、XPS 等表面分析解决方案，助力技术创新与人才培养。若希望进一步深入学习，推荐您关注宋廷鲁老师主编的另外两本著作，均涉及PHI表面分析仪器的应用内容。
好书推荐之《X射线光电子能谱仪数据分析》https://mp.weixin.qq.com/s/UyczeKXgsLi56PuhgJnOFw
《Advanced Characterization Technologies for Secondary Batteries》https://benthambooks.com/book/9789815305425
表面分析自开发软件分享
软件名称：TOF Data Normalize（TOF-SIMS深度剖析曲线归一化软件）
软件功能：适用于TOF-DR软件导出profile 曲线后的自动归一化、深度剖析时间自动累加功能。
下载地址: https://pan.baidu.com/s/1DixaIaS71dMGGG1DgptDSQ?pwd=Norm
提取码: Norm
若本软件对大家有所帮助，欢迎各位发表论文时提及、致谢本软件或开发者。
软件名称：Materials analysis testing methods selector（材料分析测试方法查询软件）
软件功能：旨在为学生提供简单快捷的材料分析测试方法筛选，帮助用户根据测试需求选择适合的分析技术。
下载地址：https://pan.baidu.com/s/1vroCcbAOy0fVSYIEABzQgg?pwd=MSER
提取码: MSER
以上自开发软件均为绿色免安装软件，由宋廷鲁老师开发，版权归北京理工大学，供PHI用户免费试用。
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