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易操作式多功能选配附件 　 全自动样品传送停放 　 高性能大面积和微区 XPS 分析 　 快速精准深度剖析 　 为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供全面解决方案

PHI第7代TOF-SIMS ・全新外观，时尚设计，设备占地面积减少，更低功耗 ・全新设计的全自动样品台，可实现可靠、高通量-的样品处理和真空停放 ・配置新型铋源LMIG团簇离子枪，具有更高的空...

1、谱学性能提升 - 使用微聚焦扫描 X 射线源进行小面积和大面积分析时具有更高灵敏度 2、新功能！大面积成像分析　 - 扫描X射线影像（SXI）功能增加样品台驱动功能，用于大面积分析导航 -...

全自动化的XPS系统采用一束扫描、聚焦、单色化的Al X射线源以及一束扫描、聚焦、单色化Cr X射线源用于高空间分辨率的化学态分析和HAXPES* ( 硬X射线光电子能谱分析）。Al单色化X射线能量

HI公司的PHI710扫描俄歇纳米探针是一台设计独特的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元素态和化学态信息。作为高空间分辨率,高灵敏度和高能量分

PHI Quantera II扫描XPS微探针是建基于业界荣获最多殊荣的Quantum 2000和Quantera SXM之上zuixin研发的XPS分析仪器，其革命性的技术包括：duchuang微聚