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PHI X射线光电子能谱仪价格:面议
- 品牌: 日本Ulvac-Phi
- 型号:PHI GENESIS
- 产地:日本
易操作式多功能选配附件 全自动样品传送停放 高性能大面积和微区 XPS 分析 快速精准深度剖析 为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供全面解决方案
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飞行时间二次离子质谱仪PHI nanoTOF3价格:面议
- 品牌: 日本Ulvac-Phi
- 型号:TOF-SIMS
- 产地:日本
PHI第7代TOF-SIMS ・全新外观,时尚设计,设备占地面积减少,更低功耗 ・全新设计的全自动样品台,可实现可靠、高通量-的样品处理和真空停放 ・配置新型铋源LMIG团簇离子枪,具有更高的空...
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XPS 光电子能谱仪价格:面议
- 品牌: 日本Ulvac-Phi
- 型号:PHI Versaprobe 4
- 产地:日本
1、谱学性能提升 - 使用微聚焦扫描 X 射线源进行小面积和大面积分析时具有更高灵敏度 2、新功能!大面积成像分析 - 扫描X射线影像(SXI)功能增加样品台驱动功能,用于大面积分析导航 -...
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- 品牌: 日本Ulvac-Phi
- 型号:
- 产地:日本
全自动化的XPS系统采用一束扫描、聚焦、单色化的Al X射线源以及一束扫描、聚焦、单色化Cr X射线源用于高空间分辨率的化学态分析和HAXPES* ( 硬X射线光电子能谱分析)。Al单色化X射线能量
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PHI 710 AES 扫描俄歇纳米探针价格:面议
- 品牌: 日本Ulvac-Phi
- 型号:PHI 710
- 产地:日本
HI公司的PHI710扫描俄歇纳米探针是一台设计独特的高性能的俄歇电子能谱(AES)仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元素态和化学态信息。作为高空间分辨率,高灵敏度和高能量分
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- 品牌: 日本Ulvac-Phi
- 型号:PHI Quantera II
- 产地:日本
PHI Quantera II扫描XPS微探针是建基于业界荣获最多殊荣的Quantum 2000和Quantera SXM之上zuixin研发的XPS分析仪器,其革命性的技术包括:duchuang微聚
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日本Ulvac-Phi
日本Ulvac-Phi公司
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日本Ulvac-Phi解决方案
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光电子能谱仪为基础的多用途分析仪器的解决方案
在这一期的电子报中,希望继续就以X射线光电子能谱仪仪器作为基础,在同一仪器上再外加不一样的分析源的可能性,并Z后对整个仪器做出总结
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环境磁场问题对分析仪器的影响与解决方案
很多贵重仪器,对环境都会有一些特定的要求,像是温度湿度或是震动与环境磁场等,环境磁场往往对各种仪器的分析结果造成一些似是而非的现象这一期电子报,我们将会介绍环境磁场是什么如何产生对仪器的影响及如何达到...
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光电子能谱仪为基础的多用途分析仪器的解决方案
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日本Ulvac-Phi技术资料
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PHI VersaProbe4
VersaProbe 4配置了全新设计的能量分析器,能够实现从微区到大面积的高灵敏度分析。同时还具备高精度的角度接受器、独特的荷电中和技术以及多样化的选配方案等特性,能够提供极限深度分辨率。所有的这些...
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PHI naoTOF3
nanoTOF 3是PHI最新一代的TOF-SIMS,擁有全新外观、紧凑设计,以及更强性能。
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PHI 710 AES 扫描俄歇纳米探针产品样册
PHI 710 AES 扫描俄歇纳米探针产品样册
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PHI Quantera II扫描聚焦XPS微探针产品样册
PHI Quantera II扫描聚焦XPS微探针产品样册
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PHI VersaProbe4
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日本Ulvac-Phi产品文章
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通过XPS和REELS评估DLC薄膜中的sp2/sp3碳含量
一:DLC概述 DLC(Diamond Like Carbon,类金刚石)是一种含有金刚石结构(sp3键)和石墨结构(sp2键)的亚稳非晶态物质,具有以sp3键碳共价结合为主...
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表面分析家|浅谈X射线光电子能谱仪
X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS),是一种基于光电效应的电子能谱,是测量电子能量的谱学技术,最初是被用来进行化学分析,因此也被称为化学分析...
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XPS对磁性材料的表征
物质按照其内部结构及其在外磁场中的性状可分为强磁性(顺磁性、抗磁性)、弱磁性(铁磁性、亚铁磁性)和反铁磁性物质,其中强磁性物质可作为磁性材料。磁性材料是存储器件、永磁体、变压器铁芯、磁机械设备、磁电子...
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通过XPS和REELS评估DLC薄膜中的sp2/sp3碳含量
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仪企号爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司
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