在过去几十年中，X射线技术在材料表征领域得到广泛应用。常见的X射线分析方法包括X射线荧光光谱（XRF）、X射线衍射仪（XRD）、X射线吸收谱（XAS）以及X射线荧光发射谱（XES）等技术。XRF和XRD技术主要用于元素成分和物相分析，早已遍布研究机构和工厂的实验室，但是XES和XAS往往需要到同步辐射站上才能测试。受限于全球同步辐射站数量非常有限，通常只有高精尖的研究才会测试XES和XAS。
近年来，经过不同的仪器厂商的努力开发，实验室用的XAS和XES谱仪开始走入各研究机构的实验室，研究人员在自己的实验室就能快速筛查不同合成/反应条件、追踪价态与自旋演变，实现价态分析的“实验室自由”。
X射线发射光谱(XES)是一种化学状态分析方法，通过测量具有高能量分辨率的荧光X射线，可以显示化合物成键状态分布的变化。常规X射线荧光设备并不能分辨价态，主要是由于能量分辨率不足，通常不足以辨别价态变化引起的能级位移。
如上图的Na2S2O3在荧光X射线分析中表现为单一峰。XES可以获得反映化合物中以1:1的比例包含的S的-2价、+6价和α1、α2电子配位的微细结构。
XES Chimica
理学X射线发射光谱仪XES Chimica搭载了新开发的光学系统， 在不使用同步辐射光源的情况下，可以在实验室环境中通过精细测量光谱的化学位移和谱线变化，高精度地评估分析材料的化学状态。该仪器配备了晶体自动转换机制、样品自动转换机制，以及定量分析用软件，具有高操作性和实用性。
XES Chimica的核心能力
能力范围｜元素覆盖广，获取体材料信息
覆盖从氧 O 至铀 U，轻重元素一机到位
体材料信息：毫米级面积内，探测深度约 1–1000 μm
宽域适用：目标元素浓度 0.1%–100%
性能精度｜分辨率与可靠性
超高分辨率，能够捕捉价态的细微变化
稳定高重现，结果一致可靠
操作体验｜数据更省心
软件自动推荐测试参数，数据处理简便，无需进行傅里叶变换
XES的超高分辨率
XES应用范围
XES侧重于探测材料中原子或离子的电子结构信息，如价态、配位环境及局部结构等。这种深层次的表征能力对于新能源材料中关键元素（如电极材料中的金属离子及氧化态）的研究至关重要，从而帮助研究人员理解材料在充放电、老化和反应过程中的细微变化，为新能源材料的表征提供了新的视角。
本期内容就到这里，下期我们将介绍理学Chimica仪器在锂离子充放电过程中的电极材料的价态变化。
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