锂离子电池，理学XRF可以做到…

理学的Supermini200作为一款台式顺序波长色散 X 射线荧光光谱仪（WDXRF），凭借其高分辨率性能和紧凑体积设计，在基本参数法与经验系数法软件功能方面展现出显著优势。他可对从氧（O）到铀（U）的元素进行精准分析，适用于几乎所有类型材料。通过创新技术，Supermini200实现了低使用成本（COO）、高分辨率与更低检测限（LLD）的完美平衡，他为用户提供了高效可靠的元素分析解决方案。

那Supermini200在锂离子电池应用有哪些呢？

如下图，为您标识了理学Supermini200在锂离子电池应用中的相关应用：（图片点击可以放大）

红土镍矿成分分析

在红土镍矿材料中，需要对决定矿石品位的镍和钴以及作为决定矿物提炼方法指标的铁和镁进行 精确的定量分析。在对这些元素进行定量分析时，通常使用电感耦合等离子体发射光谱（ICP）分析法。不过，使用X射线荧光光谱仪（XRF)可 以更快、更方便地进行类似分析。

理学Supermini200使用基体校正校准曲线的方法得出如下测试数据，（下图点击可以放大）

NCM 正极材料的主成分分析

在 NCM 正极中镍钴锰成分是决定电池性能的关键因素。传统采用电感耦合等离子体发射光谱（ICP）分析需进行酸溶解和稀释等样品前处理，而采用 X 射线荧光光谱仪（XRF）可在材料保持粉末状态下实现快速便捷的成分分析。特别是通过无标样 FP 法分析，无需制备标准样品或绘制校准曲线即可完成精确成分分析。

理学Supermini200使用无标样分析FP法得出如下测试数据，（下图点击可以放大）

金属硅负极材料的杂质分析

用作负极的金属硅通常是从硅晶片废料中回收的。因此，在验收时需要进行杂质控制。利用X射线荧光分析仪，可以在材料仍为粉末状的情况下对所包含元素进行ppm级的无损分析。使用波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF），甚至可以对硅基体中的铝杂质进行精确分析，而这种分析对于能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）而言则比较困难。

    理学Supermini200使用基体校正校准曲线的方法得出如下测试数据，（下图点击可以放大）

WDXRF和EDXRF生成铝元素谱图对比

Supermini200凭借其高功率发生器和波长色散 X 射线荧光（WDXRF）配置，能让它不仅对轻元素具有高灵敏度，还具备能量色散 X 射线荧光光谱仪（EDXRF）系统无法实现的高分辨率。

Supermini200所具备的安全、快速且操作简便，让他势必成为您各类科学分析工作的不二之选。