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理学XRF对于地质样品半定量分析

来源:日本理学株式会社 更新时间:2025-06-27 11:30:18 阅读量:332
导读:无标样想测定地质样品的组成,理学波长色散荧光光谱仪为您达成!

随着工业发展、环境保护及地球科学研究的深入,地质样品中元素的快速测定在资源勘探、矿山开采、污染物识别、地球化学特征研究等领域的重要性与日俱增。然而,地质样品元素组成复杂多样,这要求未知样品的分析方法不仅要具备快速响应能力,还需拥有高度灵活性。

现代X射线荧光(XRF)仪器中的半定量分析技术能够在无参考物质前提下对未知样品展开分析。其中,理学的 SQX 半定量分析(无标样分析)程序尤为值得关注。它运用基本参数(FP)法,结合内部灵敏度库进行理论计算,精准获取元素浓度数据。程序以硼(或氟)到铀的连续扫描测量计算结果为依据,且集成了理论重叠校正功能,能够有效消除元素谱线重叠带来的干扰。正因如此,SQX 分析在未知地质样品的筛查分析中展现出独特优势,为相关研究和实践工作提供了可靠高效的技术支撑。


下面我们将展示了利用半定量分析方法测定地质样品化学成分的过程。

理学X射线荧光光谱仪

理学 ZSX Primus III NEXT 与 ZSX Primus IV 作为波长色散型 X 射线荧光(下文简称:理学WDXRF)光谱仪中的佼佼者,在元素分析领域展现出卓越性能。凭借独特的技术设计,它们在从轻元素到重元素的全元素分析中,均能实现高光谱分辨率与高灵敏度,精准捕捉各类元素的光谱特征。理学WDXRF以输出可靠分析结果为设计核心目标,凭借强大的灵活性更使其能够适配多样化的应用场景,无论是科研探索中的复杂样品检测,还是工业生产中的质量把控,都能提供精准、高效的分析支持。


理学WDXRF配备有铑靶 X 射线管,其最大管功率分别为3kW和4kW。仪器最多可配置 10 块分析晶体,可检测元素范围从铍到铀。


在自动化配置方面,仪器内置智能自动进样器(ASC),具备灵活升级特性,其进样容量可按需拓展至 48 位或 96 位,显著提升样品处理效率,尤其适用于大批量样品的连续分析场景。


在结构设计上,两款仪器均采用 “上照式” 创新设计,专为粉末样品分析深度优化。上照射式仪器光管在样品上方,不用担心粉末压片样品掉渣和光管Be窗被污染的问题,在日常测试中,也无需在测试条件中增加保护性Be滤光片,这对超轻元素的测试有重要意义。更为突出的是,“上照式” 结构支持无粘结剂压制粉末样品的直接测量,这一特性在半定量分析中优势显著,不仅简化了繁琐的样品制备流程,还大幅缩短制样时间,同时消除粘结剂使用成本,实现高效、经济与精准的多重突破。


理学 WDXRF 光谱仪的配套软件充分考虑用户使用体验,为用户打造了直观易用的操作界面。软件中的流程栏系统功能强大,能够全面覆盖定性与定量分析的各类设置操作,让用户可以轻松完成分析参数配置。特别是无需标准样品的 “SQX” 分析程序,凭借其高度实用性脱颖而出。该程序打破传统分析对标准样品的依赖,无需复杂的标准样品制备流程,即可快速、准确地确定未知样品中的元素组成及其含量,显著降低了分析门槛,大幅提升了分析效率,为科研与生产中的元素检测工作带来极大便利。

样品制备







花岗岩(SARM 1/Mintek)被用作测试样品。


压片:将充分干燥(在 105 摄氏度下烘干 2 小时)的样品用铝制样品支撑环在 100 kN的压力下压制。


压片法是 X 射线荧光光谱法中粉末样品最常用的技术。该方法不需要任何昂贵的熔剂和熔融设备,也不需要任何耗时的程序,对操作人员也没有特殊技能或经验要求。

测量流程







本次实验选用 ZSX Primus III NEXT 光谱仪开展分析工作。首先执行从氟到铀的连续扫描分析,随后进行半定量分析(SQX),快速获取样品中元素的大致含量信息。值得一提的是,针对微量元素的测定,运用了 SQX 程序特有的固定角度测量法。当使用此功能进行测量时,软件在完成扫描序列后,会精准地对峰顶固定角度及背景搜索位置的 X 射线强度进行定时计数,有效降低统计计数误差,大幅提升微量元素分析的精度。


同时,为进一步优化分析效率,顺序定性扫描与半定量 FP 计算已被整合编程为连贯的自动化流程,无需人工过多干预,即可实现从初步定性扫描到精准半定量计算的无缝衔接,显著提升整体分析效能。

实验结果







表 1 系统呈现了 SQX 分析结果与参考值的对比数据,二者展现出良好的吻合度。同时,表中还分别列出了使用标准灵敏度库和匹配库(Matching library)功能(基于标准库进行优化)后的分析结果。作为基本参数(FP)灵敏度库的特色拓展功能,“匹配库” 能够依据未知样品的浓度及性质,通过智能算法自动检索最适配的参考样品。


从表 1 数据来看,“匹配库” 功能在轻元素分析中的优化效果尤为显著。以花岗岩样品为例,未使用该功能时,SiO?的 SQX 分析值为72.8%,Al2O3的SQX分析值为13.5%,使用后,SiO2分析值提升至 74.9%,与 75.70% 的认证值更为接近;Al2O3的分析值降低至12.6%,同样与12.08%的认证值更为接近。粉末样品在采用压片法制样时,轻元素的分析结果常因粒度效应和矿物效应而产生较大误差。通常,地质样品主要由硅酸盐矿物构成,如石英、长石等,富含硅、铝等轻元素,因此轻元素占主导地位。所以,“匹配库”功能对于在 SQX 分析中校正这些效应以获得准确结果非常有效。


依托智能算法的 “匹配库” 机制,赋予了 SQX 程序强大的分析能力。即便在无标准样品辅助的情况下,它也能通过结合 X 射线散射强度与基本参数模型进行理论计算,实现高精度的半定量分析。特别是针对以轻元素为主的复杂地质样品,“匹配库” 功能优势尽显:实现了 “无标样分析” 技术层面的重要突破,为地质样品元素分析提供了更高效、精准的解决方案。

图 1 展示了稀土元素光谱图,该图谱由 ZSX Primus III NEXT 光谱仪在标准光学条件下,采用 LiF (200) 晶体完成测量。在本研究过程中,针对钙至钠的轻元素分析,特别使用了匹配库配合 SQX 程序进行计算,同时充分利用 SQX 程序内置的理论重叠校正功能,确保分析结果的准确性。


稀土元素中的镧系元素由于原子序数连续,其光谱(L 线)在 2θ 角度范围内呈现高度密集分布的特征,致使谱线极易发生相互重叠,如图 1 所示的复杂光谱状况便是典型体现。面对这一分析难题,SQX 程序的理论重叠校正功能展现出强大的技术优势,无需人工进行繁琐的参数调整与手动校正,便能自动识别重叠谱线并执行优化校正,在复杂光谱环境下依然能够稳定、高效地保障分析的精度与可靠性。

结论

Conclusions


理学 WDXRF 光谱仪搭载的压片法半定量分析技术,凭借高效快速的优势,成为获取未知样品化学成分的有力工具。本次实验选用配备 3 kW X 射线管的 ZSX Primus III NEXT 光谱仪完成分析工作,其出色的性能保障了数据的准确性与稳定性。值得注意的是,配备 4 kW X 射线管的ZSX Primus III NEXT 和 ZSX Primus IV 光谱仪在微量元素测定领域更具优势,能够实现更精准的检测效果。


在软件功能层面,SQX 程序展现出卓越的专业性与实用性。其内置的多种独特功能,尤其是适配各类复杂地质未知样品的匹配库,可根据样品特性智能调整分析参数。这些功能的协同运作,不仅显著提升了分析结果的可靠性,还极大地拓展了地质样品筛查分析的应用范围,为地质科研与资源勘探等领域提供了坚实的技术支撑。


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