随着纳米科技飞速发展，精准的测量技术是推动新材料研发、质量控制以及法规合规的关键。国际标准化组织（ISO）发布的 ISO/TR 18196，作为纳米技术领域系统化的测量方法选择指南，为全球科研与产业界提供了至关重要的指导。该标准以技术矩阵的形式，将动态光散射（DLS）、纳米颗粒追踪分析（NTA）、激光衍射等 10 余种技术依据应用场景进行分类，有效解决了“方法选择难”的行业痛点。本次网络研讨会，我们特别邀请到 BREC Solutions 的总监 Denis KOLTSOV 博士，为大家深度拆解这一标准。
纳米技术在材料科学、电池技术、生物医药、环境监测等相关行业广泛应用（图片由 AI 生成）
作为纳米技术表征领域的权威指南，ISO/TR 18196 的技术矩阵究竟如何落地应用？不同测量技术的适用边界与优劣对比的核心要点又是什么？科研数据与产业质控需求怎样通过标准实现高效衔接？Denis Koltsov 博士凭借其在纳米材料表征领域的丰富经验，将从标准制定背景、技术矩阵构建逻辑切入，逐一解析各类测量技术的原理、适用场景及实操注意事项。通过一小时的高密度干货分享，您将快速掌握 ISO/TR 18196 标准的框架，明晰不同测量技术的选择逻辑，助力科研项目高效推进与企业产品合规升级。
为帮助大家更好地掌握课程内容，本课程配有中英双语字幕。扫文末二维码或点击 “阅读原文”，即刻了解 ISO/TR 18196 标准指南。
掌握纳米测量新标杆：ISO/TR 18196 技术矩阵实用指南
研发科学家与工程师
质控（QC）与质量保证（QA）人员
法规事务专员
学术研究者与实验室管理者
Denis Koltsov 博士
BREC Solutions 总监
了解如何根据 ISO/TR 18196 优化测量方法。
提升实验室间数据可比性，增强监管信心。
掌握标准化数据解读技巧，促进工业界、学术界与监管环境的沟通与合作
动态光散射技术(DLS)
纳米颗粒追踪分析技术（NTA）
BET 比表面积测定
激光衍射法 Zeta 电位
点击文末“阅读原文”，或扫下方二维码，即可报名参与！
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