在材料科学中，精准的元素分析是解锁诸多奥秘的关键钥匙。辉光放电光谱仪（GD?OES）凭借其独特优势，能够逐层剖析元素随样品深度的分布情况。而作为 GD?OES 的核心激发源，脉冲射频源进一步拓展了仪器的适用范围，可对导体、非导体及导体 / 非导体相间的镀层等各类固体样品实现高深度分辨率分析。
为推动先进材料分析技术交流与应用，由清华大学材料中心实验室主办，HORIBA 先进材料与生命科学业务部联合举办本次技术讲座。报告将详细讲解脉冲射频辉光放电光谱仪的测量原理、仪器结构、核心特点及应用方向，涵盖汽车材料、半导体材料、光伏领域（如太阳能电池材料）、新能源领域（如锂电材料）、核聚变领域（如反应堆钨砖渗透）等前沿应用案例分析，同时介绍其在扫描电镜前处理中的应用。在此，我们诚挚地邀请广大科研工作者、技术爱好者前往聆听，共探材料分析新领域！
赵倪婕
HORIBA 先进材料与生命科学业务部
元素分析市场负责人
毕业于中国科学院物理研究所，多年负责 HORIBA 拉曼、荧光、元素分析系列相关设备的区域销售，现主要负责元素分析相关设备的市场销售推广及技术支持等工作，在金属涂层、防腐研究、太阳能电池、半导体材料及电镜材料前处理等相关客户应用领域积累了较丰富的市场经验。
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联系方式：张老师，18210026454
HORIBA 射频辉光放电光谱仪 GD Profiler 2
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