纳米颗粒广泛应用于材料科学、生物制药、纳米技术等领域，其粒径、悬浮稳定性等关键参数直接决定产品性能与品质。动态光散射（DLS）与 Zeta 电位分析是该领域核心表征手段，二者联用可快速、可靠地获取粒径及粒度分布、颗粒表面电荷特性，直观反映体系稳定性与团聚趋势，有效规避产品失效风险。
纳米颗粒广泛应用于材料科学、生物制药、纳米技术等领域
目前，科研与产业从业者在方法选型、实验设计及结果判读上仍存在诸多困惑。如何合理选择测试方法、优化实验条件、规范数据解读、降低检测干扰，为研发、配方优化与质量控制提供科学依据，已成为行业普遍痛点。
本次讲座由 HORIBA 粒径表征产品经理 Jeff Bodycomb 博士主讲。他聚焦实际应用，兼顾原理与实操，系统讲解 DLS 与 Zeta 电位分析理论，并结合真实案例拆解常见挑战与解决方案，助力从业者快速掌握核心表征技能。
立即扫码听讲，解锁纳米颗粒表征核心技巧！
利用动态光散射（DLS）和 Zeta 电位探秘纳米颗粒系统
英语（配有中文字幕）
材料科学、生物制药、纳米科技、配方研发领域的专业从业者
Jeff Bodycomb 博士
HORIBA 粒径表征产品经理
1. DLS 的核心价值及为何成为纳米粒径分析的首选技术；
2. Zeta 电位的测量意义及如何反映悬浮体系行为与稳定性；
3. DLS 的适配场景及替代技术的选择时机；
4. 如何优化测量方法，实现准确性、稳定性与可重复性；
5. 如何解读粒径分布、多分散性等结果，规避常见检测误差。
扫下方二维码，即可观看讲座！
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