仪器网

欢迎您: 免费注册 仪器双拼网址:www.yiqi.com
首页-资讯-资料-产品-求购-招标-品牌-展会-行业应用-社区-供应商手机版
官方微信
仪器网资讯中心
仪器网/ 资讯中心/多维度半导体薄膜材料分析——椭圆偏振光谱表征方案 | 光谱技术头条

多维度半导体薄膜材料分析——椭圆偏振光谱表征方案 | 光谱技术头条

2022-07-23 14:14:07  来源:HORIBA 科学仪器事业部 浏览量:148次
【导读】光刻胶、硅材料、外延、三代半、LED、多维度薄膜分析

14.jpg


15.jpg

16.jpg

17.jpg

18.jpg

标签:椭圆偏振光谱表征方案
随时了解更多仪器资讯,求购、招标、中标信息实时更新,厂商招商信息随时看。大量、齐全、专业的仪器信息尽在仪器网(yiqi.com)。扫一扫关注仪器网官方微信,随时随地查看仪器用户采购、招标需求!
为你精选
最新企业新闻
最新产品文章
热门标签
上海长方光学仪器有限公司