扫描电镜-原子力联用技术（CPEM）交流会成功举办

2019年12月3日，TESCAN公司和上海交通大学分析测试ZX联合举办的扫描电镜-原子力联用技术（CPEM）交流会在热烈的气氛中成功举办，三十多位校内外学者和学生参加了本次交流会。

交流会上TESCAN公司顾群经理首先以 《TESCAN All-IN-One 综合显微分析系统简介》为报告主题，介绍了 TESCAN 创新的 ALL IN ONE 设计理念，在此理念下TESCAN在电镜综合分析性能的拓展上已经进行了多项创新，使得在TESCAN电镜平台上同时接入EDS、EBSD、CL、Raman、TOF-SIMS、AFM等多种分析附件以及原位的加热台、拉伸台等成为可能, 成为真正的可以提供二维、三维、四维动态的高分辨形貌观测、成分分析、微量轻元素检测及化学结构解析等集多种分析功能于一体的综合电镜分析平台。All-In-One的理念已经被广大老师认同，用户数量不断增多，国际和国内客户的科研成果也不断涌现。

顾群 经理 精彩报告

之后，NenoVision公司的Jan Neuman 博士带来了《LiteScope: AFM in SEM Plug-and-play AFM add-on for SEM microscopes》的精彩报告，Jan Neuman 博士首先介绍了 NenoVision 公司，该公司成立于2015年，主要人员来自于捷克共和国的布尔诺理工大学和中欧理工学院(CEITEC)。NenoVision公司专注于特殊类型的原子力显微镜，其知名产品——LiteScope™，很容易安装到扫描电镜中。Jan Neuman 博士在报告中例举了很多各领域的实际应用案例，通过AFM和SEM两者的联用，可以同时充分发挥两种测量技术的优点，大大拓展了样品的分析。

NenoVision公司， Jan Neuman 博士 精彩报告

新颖的应用引起了与会人员的极大兴趣，会后进行了热烈地交流，不少老师预约了当天下午开始的连续3天的 DEMO 测试。演示使用的是 TESCAN GAIA3  FIB-SEM，仅仅几分钟时间，AFM就快速地安装进入了电镜设备中。演示过程中，TESCAN 和 NenoVision 公司的应用专家们通过和老师的积极交流，现场就获得了JJ的图片和分析数据。

上海交通大学 分析测试ZX 参观演示