二维材料研究？试试 AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机？
Application Note
二维材料由于其出色的性能，在汽车、半导体、石油化学和飞机发动机等多个行业中至关重要。理解二维材料的微观结构、缺陷以及机械或电学特性对于其在先进技术中的应用至关重要，而有效制造和质量控制是发挥其潜力的关键。
Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机，同时获取 SEM 和 AFM 数据，并且实现自动关联。可以实现对薄片的精确位置定位和表面分析，在单次采集中检测多个薄片特征，能够对二维材料的机械、电学、压电、磁学、化学等多种性质进行表征和对比。
PHENOM AFM-SEM
案例一
二硫化钼（MoS2）材料的多维度表征
TMDC 材料，由于其优异的物理化学性质，在光电子器件、传感器、催化剂和电化学能源存储领域有巨大潜力。其单层的制造条件需要深入理解，以确保可靠和可重复的性能，如柔韧性、独特的电学或机械性能。常见的 TMDC 材料包括二硫化钼（MoS2）、二硒化钨（WSe2）等，它们在二维材料领域具有重要地位。
使用 Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机，可以对通过化学气相沉积（CVD）在厚 SiO2/Si 上生长的 MoS2 薄片进行精确和复杂分析。对两组不同制备条件的样品同时进行了扫描电子显微镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）、静电力显微镜（EFM）和相位成像测量，以比较结果并确定实现所需样品特征的最佳制备参数。
PHENOM AFM-SEM
案例二
扭曲双层石墨烯（TBLG）研究
TBLG 因其能够创造新的可调电子行为而被研究。扭曲影响带隙的大小和形状，导致原子结构的周期性调制，这在电学属性中以莫尔图案的形式可见。这些结构在传感器、光子学和电子设备中很有前景。
使用 SEM，导电原子力显微镜（C-AFM）和压电力显微镜（PFM）分析获取扭曲双层石墨烯（TBLG）的莫尔图案。
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